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光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器具有激光照明光學(xué)傳感器,，通過使用固態(tài)傳感器捕獲來自每個(gè)粒子的散射光,，允許對(duì)單個(gè)粒子進(jìn)行采樣,。
你知道有幾種方式可以對(duì)光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行檢測(cè)嗎,？
光散射：
光散射是指光線通過不均勻的介質(zhì)而偏離其原來的傳播方向并散開到所有方向的現(xiàn)象,。產(chǎn)生散射光,，顆粒大時(shí)散射光信號(hào)強(qiáng)，散射光光強(qiáng)與顆粒粒徑成正比,。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。
缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價(jià)較高,。
動(dòng)態(tài)圖像法：
由顯微鏡、高速攝像機(jī),、樣品分散系統(tǒng),、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成,。
優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰，操作簡(jiǎn)便,、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可干法也可濕法,，可測(cè)量最大顆粒,，可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。
缺 點(diǎn)：分析細(xì)顆粒(如-2 μm )圖像不清晰,，誤差較大，成本較高,。
靜態(tài)圖像法(顯微鏡法)：
由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成,。
優(yōu)點(diǎn)：成本較低,，操作簡(jiǎn)單，圖像清晰,、可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析。
缺點(diǎn)：分析速度慢,，無(wú)法分析細(xì) 顆粒(如-2 μm ),。
電鏡法：用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行圖像 分析的方法,。
優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒,，圖像清晰，表面紋理可見,，分辨率高,，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。
缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數(shù)少,、代表性差,、儀器價(jià)格昂貴。
光阻法：
當(dāng)液體中的微粒通過一窄小的檢測(cè)區(qū)時(shí),，與液體流向垂直的入射光,，由于被不溶性微粒所阻擋，從而使傳感器輸出信號(hào)變化,，這種信號(hào)變化與微粒的截面積成正比,，光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據(jù)此原理。
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快,，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高,，樣品用量少。
缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,，不適用粒徑<1μm 的樣品,。
電阻法：
電阻法(庫(kù)爾特)顆粒計(jì)數(shù)器粒度測(cè)量原理是小孔電阻原理。小孔管浸泡在電解液中,，小孔管內(nèi)外各有一個(gè)電極,，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽(yáng)極流到陰極。小孔管內(nèi)部處于負(fù)壓狀態(tài),，因此管外的液體將流動(dòng)到管內(nèi),。測(cè)量時(shí)將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動(dòng),。當(dāng)其經(jīng)過小孔時(shí),，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的電阻增大,，電壓升高,，產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖。當(dāng)電源是恒流源時(shí),，可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積,。儀器只要測(cè)出每一個(gè)脈沖的峰值，即可得出各顆粒的大小,，由各脈沖值即可統(tǒng)計(jì)出粒度的分布,。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù),，等效概念明確,，速度快，準(zhǔn)確性好,。
缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品,，更換小孔管比較麻煩。
沉降法：
沉降法是指粒度分析(settlinganalysis)通過檢測(cè)物料顆粒在介質(zhì)中的沉降速度進(jìn)行物料粒度分析,，確定其粒度組成的技術(shù),。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行,，價(jià)格較低,，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大,。
缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素影響,。
篩分法：
將解散后的碎屑顆粒倒人一套孔徑不同的標(biāo)準(zhǔn)篩中,，通過充分振篩,，將不同粒級(jí)的碎屑顆粒充分分開，稱量各粒級(jí)碎屑顆粒質(zhì)量,，求得碎屑顆粒的粒度分布范圍,。
優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀,、設(shè)備造價(jià)低,，常用于大于 38 μm (400 目)的樣品。
缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品,；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大,。
動(dòng)態(tài)光散射法：
動(dòng)態(tài)光散射法是測(cè)試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液,，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運(yùn)動(dòng)(布朗運(yùn)動(dòng))的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動(dòng),。當(dāng)一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí)，會(huì)在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化,。這些瞬間變化的散射光信號(hào)的幅度,、頻率等特征與顆粒大小有關(guān)，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了,。.
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬(從納米到微米),、測(cè)試速度快,，重復(fù)性好,，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：測(cè)試寬分布的納米材料誤差及較大,。 作者：顆粒計(jì)數(shù)器
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