植物冠層數(shù)據(jù)是農(nóng)學中的重要課題

    植物冠層分析儀可以快速測定植被表面參數(shù),、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息,、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù),、植物病蟲害程度等,，可分析植被指數(shù)RVI、NDVI,、作物葉層含氮量,、氮積累量、葉面積指數(shù),、葉干重等,，因此在一定程度上，借助植物冠層分析儀來獲取植物冠層相關指標,，就可以準確的幫助判斷和評估植物長勢,，動態(tài)監(jiān)測植物長勢，為植物長勢監(jiān)測提供科學解決方案,。

植物冠層測量儀可普遍應用于農(nóng)業(yè)消費和農(nóng)業(yè)科研,，為停止冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截,，研討作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量質(zhì)量與光能應用間的關系,，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量,、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒），適用于農(nóng)業(yè)、園藝,、林業(yè)領域有關栽培,、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學,。

目前,，隨著科技的進步發(fā)展及相關科研應用需求，要求的增加,，在作物的種植過程中應用植物冠層分析儀研究植物冠層數(shù)據(jù),，已經(jīng)成為當前農(nóng)學中的一項重要課題，也是開展果樹科學栽培的重要依據(jù),。通過儀器發(fā)現(xiàn)冠層結構之所以能夠影響作物產(chǎn)量和品質(zhì),，主要是因為良好的冠層結構可以提高作物葉片的光合效率，有利于作物對能量的積累,，促進了植物的生長發(fā)育,。