X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。許多ROHS檢測儀器用戶大概都不太清楚儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的,，這就是今天我們跟著RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點,。

　　X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品,。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量,。

　　然后,，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量，在有關(guān)X射線熒光光譜儀技術(shù)原理我們有更多的關(guān)于X射線熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關(guān)介紹,。

　　XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要有六個組成部分,，他們分別是：

　　1.分析速度高

　　測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短,，能夠很快測完樣品中的Pb,、Cd、Cr,、Hg,、Br、Cl,、待測元素,。

　　2.X射線熒光光譜跟樣品化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)

　　X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體,、粉末,、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定,。

　　3.化學(xué)狀態(tài)的改變

　　非破壞分析在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,，結(jié)果重現(xiàn)性好,。

　　4.物理分析法

　　X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,。

　　5.分析精密度高,。

　　制樣簡單，固體,、粉末,、液體樣品等都可以進行分析。

　　以上就是RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容,，如果大家想要了解更多關(guān)于RoHS檢測儀的內(nèi)容,，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā),、生產(chǎn),、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保,、涂鍍層,、糧食、地質(zhì)地礦,、電子元器件,、LED和照明、家用電器,、通訊,、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域,。