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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）,，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結構的分析儀器,。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件（探針）之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。
AFM可以對樣品表面形態(tài),、納米結構,、鏈構象等方面進行研究，獲得納米顆粒尺寸,，孔徑,，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息,，同時還能做表面結構形貌跟蹤（隨時間,，溫度等條件變化）。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示,，使圖像更適合于人的直觀視覺,。結合儀器的各種標準操作模式以及附件，可在進行高分辨成像的同時,，獲得包括樣品力學,、電學、磁學,、熱力學等各項性能指標,。
原子力顯微鏡使用的注意事項：
①粉末/液體樣品請備注好制樣條件,，包括分散液、超聲時間及配制濃度,；
②測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,，基底大?。?.5*0.5cm；
③PFM,、KPFM測試需要樣品表面十分平整,，粉末測試很難測到較好結果，下單前請確保風險可接受,；
④塊狀樣品需要固定好,，避免在寄送過程產(chǎn)生晃動或摩擦影響測試結果；
⑤超聲不超過20min,，如需長時間超聲,，需要自己超聲好以后給我們，但是長時間超聲后,，對樣品的影響會比較大,，需自行承擔測試風險；
⑥常規(guī)測試項目每樣提供2~3張圖片,，特殊測試項目每樣提供1~2張圖片,，力曲線每樣測試3~5條。
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