x射線數(shù)字成像技術(shù),,又稱為DR技術(shù),數(shù)字射線成像技術(shù)等,,下文將介紹一下X射線數(shù)字成像技術(shù)的基本概念和優(yōu)缺點,。
圖像灰度之分辨率的定義
(1)圖像灰度與對比度
與膠片照相技術(shù)的黑度概念相對應(yīng),,X射線數(shù)字成像技術(shù)引進灰度的概念。圖像中黑白的程度用灰度來描述,,將圖像中黑白的變化范圍定義為256個灰度等級,。顯示器上圖像較亮部位與相鄰較暗部位的灰度差稱為圖像對比度。
(2)圖像分辯與圖像不清晰度
圖像分辨率是指顯示器上可識別的線條能夠分離的最小間距,,單位是每毫米線對(LP/mm),。一個線對由一根線條和一個間距組成,且間距的寬度等于線條的寬度,,以一毫米寬度范圍內(nèi)的線對數(shù)表示,。
圖像不清晰度:在X射線數(shù)字成像過程中,一個明銳邊界的影像因受到某些因素的影響而變得模糊,,模糊的范圍擴展成一個區(qū)域,,該區(qū)域的寬度即為圖像不清晰度,單位是毫米,。
顯而易見,,圖像分辯率和圖像不清晰度實際上是一個問題的兩個表述,反映的都是圖像邊界的清晰程度,,它們可以用同一種圖像測試卡在顯示屏上客觀地測試出來,。根據(jù)定義,圖像不清晰度的量值等于圖像分辨率線對數(shù)的倒數(shù)的二分之一,。
按照視頻技術(shù)的定義,,分辨率可分為時間分辨率和空間分辨率。時間分辨率多用于儀器時基線性的分辨,。由于幾何位置或材料密度差異引起的視頻分辨率則稱為空間分辨率,。因為X射線數(shù)字成像技術(shù)不涉及時間分辨率的問題,所以X射線數(shù)字成像技術(shù)中所講的分辨率就是空間分辨率,。
成像技術(shù)指標(biāo)
從試驗情況來看,,當(dāng)鋼焊縫的透照厚度為10~20mm時,為使像質(zhì)計靈敏度達到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求,,圖像有效評定區(qū)內(nèi)的灰度應(yīng)控制在130~230,,對比度控制在60~120,圖像不清晰度應(yīng)不大于0.25mm,。按照目前的技術(shù)水平,,這三個指標(biāo)是能夠達到的。
成像技術(shù)之圖像放大
X射線數(shù)字成像技術(shù)與膠片照相技術(shù)的區(qū)別在于:實時成像所得到的圖像是放大的,,而膠片照相技術(shù)在同一條件下所得到的底片影像基本上是不放大的,。在實時成像中:
(1)圖像放大的必然性
由于探傷工件不可能緊貼在圖像增強器的輸入屏的表面上,從幾何投影原理可知,,所得圖像必然是放大的,,放大倍數(shù)M=L/L1=(L1+L2)/L1=1+(L2/L1),。
(2)圖像放大的必要性
由于實時成像法與膠片照相法的載體不同,為了提高圖像質(zhì)量,,特別是為了提高圖像的清晰度,,圖像有必要放大,這是因為:
圖像實際不清晰度U與圖像綜合不清晰度U0有關(guān),,圖像不清晰度受設(shè)備系統(tǒng)不清晰度(又稱設(shè)備固有不清晰度)Us和幾何不清晰度Ug以及移動不清晰度Ur三大因素的綜合影響,,但它們之間不是簡單的算術(shù)和的關(guān)系,根據(jù)英國標(biāo)準(zhǔn)介紹,,圖像綜合不清晰度與三者之間是立方與立方和的關(guān)系,,即:U03=Us3+Ug3+Ur3,當(dāng)采集靜止圖像時,,Ur=0,,則U03=Us3+Ug3。設(shè)備系統(tǒng)不清晰度Us是設(shè)備本身固有的,,可通過圖像測試卡在系統(tǒng)中直接測出,。幾何不清晰度與成像時的幾何參數(shù)有關(guān),根據(jù)射線投影成像原理和圖2所示,,實時成像中幾何不清晰度Ug與放大倍數(shù)M的關(guān)系是:Ug=(d•L2)/L1=d(M-1),d為X射線機的焦點尺寸,,mm,。若已知焦點尺寸d和放大倍數(shù)M,便可算出幾何不清晰度Ug,,從而算出圖像綜合不清晰度U0,。
圖像放大后,圖像中一些原來不易分辨的細(xì)小影像也被放大而變得容易分辨,,有利于細(xì)小缺陷的識別,,圖像不清晰的程度得到改善,圖像質(zhì)量得到明顯的提高,。圖像不清晰度改善的程度可以用“圖像的綜合分辨率被放大了M倍或圖像的綜合不清晰度被縮小了M倍”來表述:U=U0/M,。
然而,圖像放大也有一個適度問題,,放大倍數(shù)過大,,反而會降低靈敏度,這是因為隨著放大倍數(shù)的增大,,幾何不清晰度也隨之增大,,會使影像的邊界變得模糊。另外,,放大倍數(shù)過大也會使圖像實際檢測長度減小,,也是不經(jīng)濟的,,因此就有一個最佳放大倍數(shù)和最小缺陷檢出尺寸的問題。根據(jù)美國ASMEE1000-88標(biāo)準(zhǔn),,圖像檢測的最佳放大倍數(shù)Mopt為:Mopt=1+(Us/d)3/2,,圖像可檢測出的最小缺陷尺寸dmin為:dmin=Us/M2/3。
成像工藝之工藝試驗與工藝評定
X射線數(shù)字成像在正式使用前應(yīng)進行工藝試驗和工藝評定,,以確定工藝的有效性和穩(wěn)定性,。由于X射線數(shù)字成像是一項新技術(shù),實時成像工藝與膠片照相工藝有許多不同,,只有經(jīng)過多次的工藝試驗才能尋找到較佳工藝參數(shù),,尤其是對于初次接觸X射線實時成像方法的人員來說,多做工藝試驗是十分必要的,。通過工藝試驗,,以確定各工藝因素之間的相互關(guān)系。這里講的工藝因素主要有:X射線機管電壓,、管電流,、成像距離(L1、L2),、放大倍數(shù),、散射線屏蔽、低能射線過濾等,。由于需要試驗的工藝因素較多,,正交試驗法是一種較有效的試驗方法。工藝評定是X射線數(shù)字成像時投入使用之前的重要環(huán)節(jié),,工藝評定是以圖像質(zhì)量指標(biāo)來評定工藝試驗所確定的工藝參數(shù)的有效性,。工藝評定應(yīng)有記錄和評定報告,以備查核,。當(dāng)工藝條件改變之后,,應(yīng)重新進行工藝評定。
對比試驗
工藝評定合格之后,,要進行X射線數(shù)字成像與膠片照相法的焊縫缺陷檢出能力的對比試驗,。對比試驗的方法是制作一定數(shù)量并含有各種常見焊接缺陷的試件,用兩種方法各自對標(biāo)樣進行探傷比較,。對比試驗的作用是培訓(xùn)操作人員和評定人員,,圖像評定人員對照檢測圖像和照相底片,逐漸熟悉掌握圖像中焊縫缺陷的特征和評定方法,,取得經(jīng)驗后才能獨立地進行圖像評定工作,。
透照方式
X射線數(shù)字成像的透照方式與膠片照相方法基本相同,同樣有縱縫外透法,、內(nèi)透法,,環(huán)縫外透法,、內(nèi)透法,雙壁單影法和雙壁雙影法,。例如,,透照筒體焊縫時,可將圖像增強器(或X射線機)固定在筒體外,X射線管頭(或圖像增強器)固定在懸臂上,,筒體放在電動小車上,,懸臂伸進筒體內(nèi),筒體隨小車按規(guī)定的等分轉(zhuǎn)動或按等距離移動,,即可對環(huán)縫或縱縫進行連續(xù)檢測,。雙壁透照時,由于工件不可緊靠近圖像增強器,,所以,,以后側(cè)焊縫還是前側(cè)焊縫為檢測焊縫就顯得不那么重要,這一點是與膠片照相方法是不同的,。
散射線的屏蔽
無用射線和散射線對圖像質(zhì)量有負(fù)影響作用,,應(yīng)加于屏蔽。屏蔽的方法與膠片照相法基本相同,。
圖像的觀察
為了適應(yīng)評定人員的評片習(xí)慣,,圖像可以正像或負(fù)像方式顯示,兩種顯示方式是等效的,,彩色顯示對于分析微小缺陷有明顯的分辨作用,。
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