圖1：Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀,，右側有紫外線照射源，樣品倉中有可加熱的ATR附件,；

圖1所示為VERTEX80光譜儀,，樣品倉中帶有可加熱ATR附件，外部紫外線源的光纖通過ATR附件上的可調(diào)支架固定,。另外,，Bruker的鉑金ATR，即單次反射的金剛石ATR,，它也可以用于測試遠紅外范圍,。

圖2：紫外輻照Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，光源位于右側,，樣品倉內(nèi)透射附件,；

除ATR技術外，透射技術也可作為分析工具,。Bruker光學透射附件A043-N/Q,，其帶有水平樣品支架，如圖2所示,。樣品支架的高度可以調(diào)整,，紫外線光纖支架的高度也可以調(diào)整。

OPUS光譜學軟件用于數(shù)據(jù)采集,，附加軟件包OPUS/3D用于數(shù)據(jù)可視化和數(shù)據(jù)評估,。圖3顯示了OPUS軟件中用于顯示時間分辨測量數(shù)據(jù)的3D圖。

圖3：OPUS光譜學軟件中時間分辨快速掃描測量結果,。左上角區(qū)域顯示了FTIR光譜在反應時間過程中的變化,，如3D圖所示。右上角的區(qū)域顯示了FTIR光譜中C-O和C-H鍵的峰值高度與時間的關系,，用于監(jiān)控反應速率,。右下角區(qū)域顯示了FTIR光譜圖。

圖4：C=C雙鍵處的C-O-C基團（綠色曲線）以及C-H基團（粉色曲線）的強度隨時間的變化

圖5：快速掃描測量FTIR光譜