電子元器件模擬環(huán)境高低溫濕熱實驗

來源：東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司 2022年03月14日 09:23

實驗樣品：電子元器件

測試設(shè)備：高低溫濕熱實驗

試驗條件：雙85高溫高濕,，溫濕度交變,，極限溫度使用

一,、溫濕度交變實驗

在正常環(huán)境溫度下，將電子元器件放進高低濕熱實驗中,，調(diào)節(jié)溫度,，-30℃~70℃，60~90%高低溫度點各保持30min,，溫度升降變化率不低于1-1.2℃/min,，進行200個循環(huán)（一個溫濕度過程為一個循環(huán)）。

二,、雙85高溫高濕

在濕度85%,、環(huán)境溫度85℃的高低溫濕熱實驗中，在額定電壓下通電,，處于待機狀態(tài)，試驗時間240h,，控制器應(yīng)無異常,，試驗完成后，在常溫下恢復4h后能正常工作,，不能出現(xiàn)規(guī)定功能的喪失,。

三、極限溫度使用

將整個電子元器件放置在極限環(huán)境下,，電子元器件應(yīng)能帶載連續(xù)正常工作8h,。然后將整個電子無器件放置在極限的環(huán)境下，電子元器件應(yīng)能帶載連續(xù)正常工作8h,。

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