紅外線氣體分析儀常見故障及處理方法
溫度變化的干擾:
紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定,,影響紅外輻射的強度,,影響測量氣室連續(xù)流動的氣樣密度,還將直接影響檢測器的正常工作,。如果溫度大大超過正常狀態(tài),,檢測器的輸出阻抗下降,,導致儀器不能正常工作,甚至損壞檢測器,。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護電路,即使如此,,有的儀器示值特別是微量分析儀器,,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時尤為明顯,。在這種情況下,,需改變環(huán)境溫度,設置空調(diào)是一種解決辦法,。
光路不平衡干擾:
一臺紅外線氣體分析儀預熱后通入氮氣時,輸出很大,,這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起,,因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達到小,再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出Z小即可,。然后同零點氣和量程氣,,反復校準儀表零點和量程。
水分干擾:
零點氣中若有水分,,紅外線氣體分析器標定后,會引起負誤差,,在近紅外區(qū)域,,水有連續(xù)的特征吸收波譜,若標定用的零點氣中含有水分時,,將造成儀器的零位的負偏,,標定后儀器示值必然比實際值偏低,從而起負誤差,。
大氣壓力波動的干擾:
大氣壓力即使在同一個地區(qū),、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時,,變化的幅度較大,。大氣壓力的這種變化,對氣樣放空流速有直接影響,。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣,,會隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差,。
相關產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載,、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,,應在授權(quán)范圍內(nèi)使用,,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,,本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,,目的在于傳遞更多信息,,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任,。其他媒體,、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,,并自負版權(quán)等法律責任,。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,,否則視為放棄相關權(quán)利。