金屬疲勞裂紋擴(kuò)展至斷裂機(jī)理
疲勞裂紋擴(kuò)展可以分為三個(gè)階段:第I階段(裂紋萌生,,shot cracks),第II階段(裂紋擴(kuò)展,,long cracks),,第III階段(瞬時(shí)斷裂,final fracture)
第I階段:一旦裂紋萌生以后,,就會(huì)沿著最大剪切應(yīng)力平面(約45o)擴(kuò)展,。這一階段被認(rèn)為是第I階段或者短裂紋萌生和擴(kuò)展階段。裂紋一直擴(kuò)展直到遇到障礙物,,如晶界,、夾雜物或珠光體區(qū)。它無法容納初始裂紋的擴(kuò)展方向,。因此,,晶粒細(xì)化是可以提升材料疲勞強(qiáng)度的利用了引入大量微觀障礙物的原理。晶界,,在裂紋擴(kuò)展的第I階段需要克服晶粒的阻礙并越過晶界,。表面機(jī)械處理,例如噴丸和表面滾壓也會(huì)引入一些微觀的障礙物,,因?yàn)樗鼈兪咕Ы绫粔罕饬?/span>,。
第II階段:由于裂紋擴(kuò)展,實(shí)際載荷的上升,,應(yīng)力強(qiáng)度因子K不斷增加,,在裂紋頂端附近的不同平面上開始發(fā)生滑移,于是就進(jìn)入了第II階段,。相比之下第I階段裂紋擴(kuò)展方向與載荷方向成45度角,,進(jìn)入第II階段,,裂紋擴(kuò)展方向與載荷方向垂直,成90度角,,如圖1所示,。第II階段一個(gè)非常重要的特征就是斷口表面出現(xiàn)波紋,專業(yè)術(shù)語稱為疲勞輝紋(Striations),,它需要在掃描電鏡的幫助下才能看清楚,。并不是所有工程材料在發(fā)生疲勞時(shí),進(jìn)入第II階段都會(huì)產(chǎn)生疲勞輝紋,。疲勞輝紋在純金屬和一些韌性較好的合金中出現(xiàn),,例如鑄態(tài)的鋁合金。在鋼鐵里面,,常常在冷作硬化的鋼中發(fā)現(xiàn)這種特征,。
第III階段:最終,當(dāng)裂紋頂端應(yīng)力強(qiáng)度因子超過了臨界應(yīng)力強(qiáng)度因子,,那么裂紋失穩(wěn),,發(fā)生快速擴(kuò)展。在這一階段,,裂紋的擴(kuò)展由失效的靜態(tài)模式控制,,對(duì)微觀組織結(jié)構(gòu)、載荷比以及應(yīng)力狀態(tài)(平面應(yīng)力加載或平面應(yīng)變加載)非常敏感,。
宏觀上看,,疲勞斷口可以分為兩個(gè)主要區(qū)域。第一個(gè)區(qū)域與疲勞裂紋穩(wěn)定擴(kuò)展相對(duì)應(yīng)并且呈現(xiàn)出平滑的一面,,因?yàn)閷?duì)偶斷裂面會(huì)發(fā)生相互摩擦,。有時(shí)候,在斷口表面上能看到“海灘標(biāo)記”,,它是載荷變化的結(jié)果,,或因?yàn)榕R時(shí)停止加載,或因?yàn)檫^載在裂紋頂端引入了壓縮殘余應(yīng)力,。
最終斷裂:斷口上其它的部分就對(duì)應(yīng)著最終斷裂區(qū),,呈現(xiàn)出纖維狀和不規(guī)則特征,。在這個(gè)區(qū)域里,,斷口既可以是延性的,也可以是脆性的,。它取決于材料的力學(xué)性能,,構(gòu)件的幾何尺寸或加載條件。
每一個(gè)區(qū)域的準(zhǔn)確比例取決于實(shí)際載荷水平,。載荷越高,,穩(wěn)定擴(kuò)展區(qū)域比例越小,。在另一方面,如果加載的載荷較小,,那裂紋擴(kuò)展較長距離以后才能超過臨界應(yīng)力強(qiáng)度因子,,達(dá)到材料的斷裂韌度值,導(dǎo)致瞬時(shí)斷裂區(qū)較小,。
棘輪花樣:棘輪花樣是在疲勞斷口表面可以觀察到的另外一種宏觀特征,。這些特征通常出現(xiàn)在多源開裂的情形中,裂紋萌生于不同的位置時(shí),,當(dāng)它們相互匯合時(shí),,就會(huì)在斷口上出現(xiàn)臺(tái)階。因此,,棘輪花樣的數(shù)量是裂紋起始點(diǎn)數(shù)量的一個(gè)很好的指標(biāo),。
擴(kuò)展速率:相似于起始階段,很多因素會(huì)影響長疲勞裂紋的擴(kuò)展速率,。其中,,最應(yīng)該關(guān)注的就是載荷比和殘余應(yīng)力的影響。增加載荷比從趨勢(shì)上會(huì)增加長裂紋擴(kuò)展速率,,通常增加載荷比對(duì)Paris體系的影響比臨近門檻值和近失效區(qū)的影響小,。接近門檻值應(yīng)力強(qiáng)度因子,比例R可歸因于裂紋閉合效應(yīng),。
對(duì)于大多數(shù)材料,,Paris體系被認(rèn)為“無閉合和不依賴于最大應(yīng)力強(qiáng)度因子”。并且裂紋擴(kuò)展速率通常與不同R比率條件下的測(cè)試相似,。接近最終失效,,當(dāng)Kmax接近KIC時(shí),R比率的影響與高的單調(diào)斷裂分量有關(guān),。
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