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在實驗室中對比方鋁或鋼等金屬和合金樣品的晶粒進(jìn)行剖析，是質(zhì)量操控中非常重要的一個環(huán)節(jié),。在對這類金相樣品進(jìn)行剖析時,，一般會運(yùn)用到奧林巴斯金相顯微鏡。通過對樣品進(jìn)行查詢,，所取得的晶粒大小和分布信息能夠標(biāo)明這種合金所具有的完整性和質(zhì)量水平。
合金歸納了多種金屬的優(yōu)點,。在對合金進(jìn)行加工時,，資料中成長晶粒內(nèi)的原子就會根據(jù)資料的晶粒結(jié)構(gòu)排列成某種特定的圖畫。跟著晶粒的成長,，每個晶粒又會影響其他的晶粒,，并在原子方向不同的位置上構(gòu)成一個界面。跟著粒徑逐步變小,，原料的機(jī)械性能會增強(qiáng),。所以，嚴(yán)厲操控合金的組成成分以及加工進(jìn)程,，才可以操控好粒徑的大小以習(xí)慣制作所需,。
比方說，轎車制作商會在研發(fā)新的轎車部件的時候,，對制作這個部件的某種合金的晶粒大小和分布情況進(jìn)行研究,，以承認(rèn)這個部件是否能夠在各種極點情況下堅持杰出的情況,，由于假如制作這個部件的資料質(zhì)量不過關(guān)，人的生命就會受到要挾,。航空航天部件的制作商需求密切注意制作商用飛機(jī)起落架所用的鋁制部件的晶粒特性。除了要剖析晶粒大小和分布趨勢之外,，嚴(yán)厲的內(nèi)部質(zhì)量操控程序或許還會要求檢測人員完整地記錄下檢測作用并進(jìn)行歸檔,，以備日后參閱之用。
在過去,，質(zhì)量操控實驗室運(yùn)用ASTM的圖表比較辦法對晶粒進(jìn)行剖析,。操作人員將光學(xué)顯微鏡下的實時圖畫與一般張貼在顯微鏡附近墻壁上的顯微圖譜進(jìn)行比較，能夠?qū)Y料的晶粒大小進(jìn)行目測點評,。
由操作人員通過肉眼對晶粒大小進(jìn)行點評,，得到的點評作用會存在過錯或許不具備重復(fù)性，并且不同操作人員所得到作用一般不具有再現(xiàn)性,。此外,，操作人員還要將作用以手動輸入的辦法輸入到核算機(jī)中，在這個進(jìn)程中也或許出現(xiàn)過錯,。奧林巴斯金相顯微鏡將能協(xié)助操作人員在剖析以及圖畫剖析環(huán)節(jié)對晶粒進(jìn)行契合ASTM E112或許其他各種標(biāo)準(zhǔn)的剖析,。
結(jié)束資料晶粒剖析的一個廣受歡迎的數(shù)碼解決方案被稱為“截點法”。這種辦法是將一個圖譜（圓圈,、圓圈上劃十叉,、線段等）掩蓋于數(shù)碼圖畫（實時或捕獲的圖畫）之上。每逢掩蓋的圖譜與晶粒距離相交時,，就會在圖畫中畫上一個截點,，并記錄下來（參見右圖中的符號示例）?？紤]到系統(tǒng)校準(zhǔn)的要素,，圖畫剖析軟件會根據(jù)截點計數(shù)和圖譜長度自動核算出ASTM G值（即粒徑）、晶粒數(shù)量和均勻截距長度,。
數(shù)碼金相實驗室核算粒徑的另一種常用辦法被稱為“平面測量法”,。與截點法不同，平面測量法是通過核算單位面積中晶粒的數(shù)量來承認(rèn)（實時或捕獲的）圖畫中的晶粒大小,。
奧林巴斯金相顯微鏡圖畫剖析軟件會自動核算作用,，因而排除了人為干涉的要素。在通過奧林巴斯金相顯微鏡平面測量法剖析粒徑的運(yùn)用中,，無論是整體準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,，還是可重現(xiàn)性，都得到了前進(jìn),。此外,，某些顯微鏡于金相剖析的圖畫剖析軟件通過裝備,，能夠自動將晶粒剖析作用歸檔到電子數(shù)據(jù)表格或可選配的集成式數(shù)據(jù)庫中。只需要按一下按鈕,，就能夠生成包括相關(guān)剖析數(shù)據(jù)和圖畫的陳述,，而所有這些操作技能只需底子的練習(xí)即可學(xué)會。
奧林巴斯金相顯微鏡一般來說比正置金相顯微鏡更受歡迎,，由于能夠?qū)⒛テ綊伖獾臉悠分苯悠椒旁诘怪蔑@微鏡的機(jī)械載物臺上,，所以能夠確保在移動載物臺查詢的時候，始終堅持樣品聚集,。
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