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X射線熒光分析儀技術(shù)特點介紹：
1,、X射線熒光分析儀在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,，致使目標峰的觀測比較困難,。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,，有效地降低了背景和散射X射線的干擾,，調(diào)整出*具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值,，從而可以進行更高靈敏度的微量分析,。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾,，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3,、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,，會使此時譜圖的波峰重疊在一起,，由此產(chǎn)生了重疊峰。自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰,，確保了元素分析的正確性,。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器,，因此當X射線熒光在通過探測器的時候,，如果某種元素的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大,。此時,，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰,。
5,、在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償,。
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