1,、零點校正:由于超聲波經(jīng)過保護膜,、耦合劑(直探頭)或有機玻璃楔塊(斜探頭)進入待測工件,在缺點定位時,,需將這局部聲程移去,,才能得到超聲波在工件中實踐聲程。
2、K值校正:由于斜探頭探傷時不只要知道缺點的聲程,,更要得出缺點的筆直和水平方位,,因而斜探頭還要精確測定其K值(折射角)才能精確地對缺點進行定位。K值通常是經(jīng)過對具有已知深度孔的試塊來調(diào)理,,如用CSK-IA試塊50或1.5的孔,。
3、定量校正:定量調(diào)理通常選用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭),。
超聲波探傷儀比別的探傷儀具有更高的分辨率和清晰度,。超聲波探傷儀在檢測相同物品時可以檢測到高于別的探傷儀,并且可以確保檢測物體的細節(jié)缺陷和微小缺陷可以被捕獲,相比別的探傷儀在準(zhǔn)確度方面,超聲波探傷儀顯然更*,。
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