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XRF歸納之X射線熒光光譜分析概述
X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence，XRF)是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測(cè)手段,，也是一種重要的表面/表層分析方法,。
XRF測(cè)試作為常用測(cè)試之一，但仍有許多同學(xué)不太了解,，本篇文章由科學(xué)指南針科研服務(wù)平臺(tái)給大家介紹X射線熒光光譜分析概述,。
X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence，XRF)是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測(cè)手段,，也是一種重要的表面/表層分析方法,。由于整體技術(shù)和分光晶體研制發(fā)展所限，早期的X射線熒光光譜儀檢測(cè)范圍較窄,，靈敏度較差,。隨著測(cè)角儀、計(jì)數(shù)器,、光譜室溫度穩(wěn)定等新技術(shù)的進(jìn)步,，使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的測(cè)量精密度與準(zhǔn)確度有了較大改善。特別是人工合成多層膜晶體的開(kāi)發(fā)應(yīng)用使輕元素鈹,、硼,、碳,、氮、氧等的X射線熒光光譜分析分析成為可能,，這類晶體是由低原子序數(shù)和高原子序數(shù)物質(zhì)以納米級(jí)厚度交替疊積而成,，其層間厚度可以人工控制，如OVO-B晶體的間距為20納米,，適用于硼和鈹?shù)姆治?。由于X射線管的功率增大，鈹窗減薄,，X射線管與樣品的距離縮短,，為輕元素分析配備了超粗準(zhǔn)直器，降低了元素的檢出限,，技術(shù)發(fā)展使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的檢測(cè)范圍可達(dá)到4Be(鈹)～92U(鈾),，對(duì)元素的檢測(cè)范圍為10-6%～100%。
以上僅為科學(xué)指南針平臺(tái)的自我總結(jié),，故此分享給大家,，希望可以幫助大家對(duì)測(cè)試更了解，如有測(cè)試需求,，可以和科學(xué)指南針聯(lián)系,，我們會(huì)給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和好的服務(wù)體驗(yàn)，惟?？蒲泄ぷ髡呖梢愿p松的工作,。
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