X射線粉末衍射儀適用性很廣,通常用于測量粉末,、單晶或多晶體等塊體材料,,并擁有檢測快速、操作簡單,、數(shù)據處理方便等優(yōu)點,。
X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場,。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計,。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長,、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射,。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產生衍射線,。
X射線粉末衍射儀的應用介紹:
1,判斷物質是否為晶體,。
2,,判斷是何種晶體物質。
3,,判斷物質的晶型,。
4,計算物質結構的應力,。
5,,定量計算混合物質的比例。
6,,計算物質晶體結構數(shù)據。
7,,和其他專業(yè)相結合會有更廣泛的用途,。
比如可以通過晶體結構來判斷物質變形,變性,,反應程度等
X射線粉末衍射儀使用的一些注意事項:
(1)固體樣品表面>10×10mm,,厚度在5μm以上,表面必須平整,,可以用幾塊粘貼一起,。
(2)對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向,,衍射強度異常,,需提供測試方向。
(3)對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變),,測量殘余奧氏體,,要求制備成金相樣品,并進行普通拋光或電解拋光,,消除表面應變層,。
(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,,重量大于5g,。
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