常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點(diǎn)是什么,？

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法,、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)

篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單,、直觀,、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品,。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品,；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單,、直觀,、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢,、代表性差,，無法測超細(xì)顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便,，儀器可以連續(xù)運(yùn)行,，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,，測試范圍較大,。 缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長。

電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便,，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確,，速度快,，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測試范圍較小,，小孔容易被顆粒堵塞,，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。

電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高,。 缺點(diǎn)：樣品少,、代表性差、儀器價(jià)格昂貴,。

超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接測量,。 缺點(diǎn)：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低,，不用對樣品進(jìn)行分散,，可測磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值,，不能測粒度分布,。

激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快,，測試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測量和干法測量,。 缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大,。