X熒光光譜儀三種X射線探測器的比較及應(yīng)用

來源：深圳市楚英豪科技有限公司 2021年07月06日 14:55

X熒光光譜儀是測定材料發(fā)光性能的基本設(shè)備,。主要包括光源、激發(fā)單色器、樣品池,、熒光單色器及探測器等主要部件,。而探測器是很重要的一環(huán),，它的重要作用是接受和分辨信號,，由于探測器性能的不同，在選用探測器時,，就需要綜合考慮多種因素,。

　　好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數(shù)率，還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區(qū),。其應(yīng)用領(lǐng)域和使用環(huán)境等也是需要關(guān)注之一,。

　　就目前X熒光光譜儀常用的三種X射線探測器而言，產(chǎn)生一個離子對的平均能量,，在Si(Li）探測器,、流氣式正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器之間大約相差一個量級,，而分辨率與統(tǒng)一個光子產(chǎn)生的電子數(shù)的平方根成正比,，故三者之間的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探測器中產(chǎn)生的等價離子對數(shù)目與人射光子能量成正比,，與產(chǎn)生離子對的平均能量成反比,。

　　三種X射線探測器的比較：

　　1,、流氣式正比計數(shù)器適用波長范圍0.15～5.0/nm,，平均能量/離子對26.4eV，電子數(shù)305/光子,，分辨率1.2/keV,。

　　2、NaI閃爍計數(shù)器適用波長范圍0.02~0.2/nm,，平均能量/離子對350eV,，電子數(shù)23/光子，分辨率3.0/keV,。

　　3,、Si(Li)探測器適用波長范圍0.05～0.8/nm，平均能量/離子對3.6cV,，電子數(shù)2116/光子,，分辨率0.16/keV,。

　　盡管X熒光光譜儀由于使用分光晶體而達(dá)到約12eV的分辨率，但新的能量探測器已經(jīng)可達(dá)到4eV,，在分辨率方面已取得優(yōu)勢,。

　　事實(shí)上如果新型能量探測器在計數(shù)率和制造工藝的穩(wěn)定性方面能取得突破，則X熒光光譜儀有可能在未來逐步取代復(fù)雜的波長色散X熒光光譜設(shè)備,，成為X熒光光譜分析領(lǐng)域的主流,。

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