微電阻法

來源：篤摯儀器（上海）有限公司 2021年06月02日 17:08

它如何進(jìn)行測量的,？有哪些重要的因素？

微電阻法適用于測量絕緣基板上導(dǎo)電鍍層的厚度,，符合標(biāo)準(zhǔn)ISO 14571,。它經(jīng)常用于檢測印刷電路板和多層PCB上的銅鍍層厚度。微電阻率法的優(yōu)點(diǎn)是電路板的其他層對測量不產(chǎn)生影響,，因此它可以精確地測量最上層的厚度,。

微電阻法的探針有排成一排的4個(gè)探針。當(dāng)把探針放置在被側(cè)面上時(shí),，電流在兩個(gè)最外層探針之間流動(dòng),。而位于內(nèi)側(cè)兩個(gè)探針之間的鍍層作為電阻，可以測出其電勢差,。該電阻值——或者說是該電勢差——與鍍層厚度成反比,。

所有的電磁測量法都是通過比較的方法。也就是將測量信號與存儲(chǔ)在設(shè)備中的特征曲線進(jìn)行比較,。為了得到正確的結(jié)果,，特征曲線必須與當(dāng)前條件相匹配,，可通過校準(zhǔn)來實(shí)現(xiàn)。

影響測量結(jié)果的重要因素包括：鍍層的電阻率,、樣品的形狀以及表面的粗糙度。此外,，操作人也會(huì)影響測量結(jié)果,。

除了鍍層的厚度，銅的電阻率也會(huì)影響探針之間的電勢差,。電阻的變化取決于的合金材料的不同以及其加工方式,，溫度也會(huì)引起其電阻的變化。這可能需要進(jìn)行溫度補(bǔ)償,，或在相同的測量環(huán)境條件下進(jìn)行校準(zhǔn),。

在非常小的樣品中，電場的分布與大面積樣品中的分布不同,，這種偏差導(dǎo)致了涂層厚度測量的系統(tǒng)誤差,。因此，對于小樣品而言,，需要特殊規(guī)格的探頭,，或者探針距樣品的邊緣有最小距離的要求。

最后重要一點(diǎn),，儀器的操作方式也是一個(gè)主要的影響因素,。確保探頭始終垂直接觸被測面，且不受外力,。為了獲得更準(zhǔn)確的測量值,，還可以借助測量臺(tái)來使探頭自動(dòng)接觸樣品。

相關(guān)產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品,，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品,。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”,。違反上述聲明者,，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品,，目的在于傳遞更多信息,，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任,。其他媒體,、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任,。
如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)等問題，請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利,。