介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷,、裝置瓷、電容器等陶瓷,，還有復合材料等的一項重要的物理性質,，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε）,，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù),；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了通用、多用途,、多量程的阻抗測試,。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,、標準頻率測試點自動設定,、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉換,、數(shù)值顯示等新技術,，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感,，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為精確,。儀器能在較高的測試頻率條件下,，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量,，電容器的電容量和損耗角正切值,，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,，傳輸線的特性阻抗等,。

高頻絕緣材料介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、高頻Q表,、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件電感器組成,。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007,、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作,。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案,。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品,，配用Q表作為指示儀器,。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）,。

一 本設備適用標準

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法

介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1. 主機：高頻Q表

2. （數(shù)顯）介電常數(shù)ε_r和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑Φ38mm ；厚度可調 ≥ 15mm

3. 電感組

注意: 可定制100MHz電感.

三 高頻介電常數(shù)及介質蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:

1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

四 介電常數(shù)和介質損耗界面顯示