高溫四探針綜合測試系統(tǒng)的符合標準與應用

來源：北京華測試驗儀器有限公司 2021年04月20日 15:35

高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜,，塊體功能）是為了方便的研究在高溫條件下的半導體的導電,，該系統(tǒng)可以實現(xiàn)在高溫,、真空及惰性氣氛條件下測量硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層,、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻,。

高溫四探針綜合測試系統(tǒng)符合的標準：

1、符合GB/T 1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》

2,、符合GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

最后我們來了解一下高溫四探針綜合測試系統(tǒng)的應用：

1,、測試硅類半導體,、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,；

2,、可測柔性材料導電薄膜電阻率/方阻；

3,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）電阻率/方阻；

4,、納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻,；

5、電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量；

6,、可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻,。

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