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三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案

來源:冠乾科技(上海)有限公司   2021年03月11日 10:18  

光學(xué)元件在各個領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,,對光學(xué)元件的表面加工精度提出越來越高的要求,。如何檢測光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,,保證終元器件的性能指標,,是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。

光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度,,這些參數(shù)會影響其對光信號的傳播,,進而影響終器件的性能。此外,,各種新型光學(xué)元件也需要檢測其表面輪廓,,比如非球面,衍射光學(xué)元件,,微透鏡陣列等,。除了終光學(xué)元件的加工精度以外,各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測中間過程的三維形貌以保證終產(chǎn)品的精度,,包括注塑,、模壓的模具,光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時的掩膜版,,刻蝕過程的圖案深度,、寬度等。

布魯克的三維光學(xué)顯微鏡配備的雙光源技術(shù),同時實現(xiàn)白光干涉和相移干涉成像,,適用于各種不同光學(xué)樣品,、模具的三維形貌測量。在光學(xué)加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,。

· 設(shè)備可以用于光學(xué)元件表面質(zhì)量檢測,,可以通過表面粗糙度、表面斜率分布等判斷光學(xué)元件整體散射率,,也可以統(tǒng)計局部的各種缺陷,。

· 設(shè)備還可以用于各種光學(xué)元件的面型分析,除了手動分析以外,,軟件還提供了包括Zernike多項式擬合,、非球面分析等功能。

· 由于該設(shè)備能準確測量和分析光學(xué)元件,,在多種先進光學(xué)元件中得到廣泛應(yīng)用,,包括光柵、菲涅爾透鏡和二元光學(xué)元件等衍射光學(xué)元件,,以及微透鏡陣列等,。

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         粗糙度作為衡量表面加工質(zhì)量的基本參數(shù),在光學(xué)加工領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,。1961年Bennett and Porteus就觀察到當表面粗糙度遠小于入射波長時,,散射率與Sq直接相關(guān)。因此Sq(Rq,,RMS)在光學(xué)領(lǐng)域得到廣泛關(guān)注,。公式也顯示,隨著入射波長的降低(或者頻率的增加),,Sq也需要隨之減小,,以保持散射率不增加。因此在高頻即短波長領(lǐng)域?qū)Υ植诙鹊臋z測更為重要,。

       白光干涉儀作為一種精密的三維形貌測量設(shè)備,,能準確測量亞納米尺度的表面粗糙度。軟件還能根據(jù)各種相關(guān)標準,,進行表面形貌分析,,獲得多種參數(shù),包括波紋度,、翹曲等,。

從兩百年前的光柵開始,衍射光學(xué)元件(Diffractive Optical Elements,,DOE)在各種領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,。比如基于廣播的衍射理論設(shè)計的二元光學(xué)器件,,在傳統(tǒng)光學(xué)元件表面刻蝕產(chǎn)生兩個或多個臺階深度的浮雕結(jié)構(gòu),形成純相位,、同軸再現(xiàn),、具有*衍射效率的一類衍射光學(xué)元件。

上個世紀末還出現(xiàn)了一種混合光學(xué)成像系統(tǒng),,它既包括傳統(tǒng)光學(xué)器件,,也含有衍射光學(xué)器件。這類系統(tǒng)同時利用了光的折射和衍射,,不僅可以增加光學(xué)設(shè)計自由度,而且能夠在一定程度上突破傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)的許多局限性,,在改善系統(tǒng)像質(zhì),、減小體積和降低成本等多方面都表現(xiàn)出了優(yōu)勢。

       布魯克的三維光學(xué)顯微鏡能準確測量,、分析這些元件表面,,加速這類元件的應(yīng)用速度。軟件可以自動分析垂直的光柵結(jié)構(gòu),,獲得光柵的周期,、粗糙度、深度等信息,,避免手動測量帶來的人為誤差,。對于菲涅爾透鏡,軟件可以從透鏡三維形貌中獲得每一級的間距,、高度和曲率半徑等信息,。軟件可以自動測量并分析二元光學(xué)器件,獲得器件表面每個區(qū)域的高度,、粗糙度,、位置等參數(shù),用于評估加工樣品的質(zhì)量,。其中,,臺階數(shù)和臺階高度與衍射效率直接相關(guān)。隨著臺階數(shù)增加,,制作難度也在增加,。準確測量各個臺階極為重要。      

       對于這類表面有各種結(jié)構(gòu)的光學(xué)元件,,布魯克的軟件提供了多種自動分析工具,,比如多區(qū)域分析。它可以通過多種特征識別方式,,自動提取樣品表面各種結(jié)構(gòu)的三維信息,,并做統(tǒng)計分析,,獲得每個結(jié)構(gòu)的多種參數(shù)(如下圖所示)。

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