將模體放置在頭部診斷位置,,并使模體水平放置于掃描野中心,,然后送入磁體孔內(nèi),,并掃描出定位圖。用SE掃描序列,層厚10mm(沒有10mm層厚的,,選用大層厚),,按TR500ms,,TE30ms,, NEX2次,,FOV250mm和256×256矩陣掃描條件(必要時可適當(dāng)改變TR、TE時間,,以獲得更好的影像),,對模體不同測量層面進(jìn)行單層掃描,必要時*行均場,。
按上述掃描條件對模體低對比度層面進(jìn)行掃描,。調(diào)窗寬(W)和窗位(L),對*檢定應(yīng)能分辨出φ4.0mm,,深度為0.5mm圓孔,。后續(xù)檢定和使用中的應(yīng)能分辨出φ6.0mm,,深度為0.5mm圓孔,。
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