GWB-200J 型引伸計標定儀,,是一種純機械式的高精度位移測微儀器,。依據JJG762-92 引伸計檢定規(guī)程及JJF1096-2002引伸計標定器校準規(guī)范的要求,,專門用于對各類引伸計的標定,,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表,、千分表的檢定,。本儀器還為專門定貨,,可加長標距范圍,,其性能以及精度指標不變,。
第y部分
結構特點及讀數方式
引伸計標定儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計,。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,,同時配有加長立柱附件,配有圓柱,、板,、刀片等多種形式的分離試樣,,可以方便的進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要,,配置專業(yè)配件進行精密微變形量計量,。精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒,、讀數內筒,、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其大量程25mm,;小分度(游標分度)0.0002mm,;旋轉外筒分度0.002mm。位移變化讀數為:L=(a+0.001b+0.0001c)-(a.+0.001b.+0.001c.)其中:a一內筒毫米刻線讀數b一外筒刻線讀數c一游標刻線讀數anbCo為相應位移變化前讀數.
第二部分
各項技術精度指標
1,、測量引伸計標距范圍Lmax 500mm
2,、測量支座上支臂安裝孔徑 Φ10;Φ28
3,、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5mm/格
4,、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002mm/格
5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002mm/格
6,、高精密微分測頭精度示值誤差指標
量程0.5mm以內±0.5μm 誤差
量程0.5mm以上±0.10% 逐點相對誤差
參照標準:
JJF 1096-2002 引伸計標定器校準規(guī)范
ISO 9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計的標定
JJG 762-1992 引伸計檢定規(guī)程
可進行0.5級引伸計的標定
第三部分
使用說明
請依據JJG 762-92引伸計檢定規(guī)程及JJF 1096-2002引伸計標定器校準規(guī)范的要求,,進行引伸計的檢定:
1、根據被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格,,選擇與測試試樣基本一致的分離試樣,。
2、調整兩測量支臂的位置,,獲得適宜的檢定空間,;調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調整測微頭與下底座的距離,,以保證測微頭的有效行程,。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位,在檢定過程中除準許運動位移的部分外,,都不準許有任何滑動或松動,。
3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:
(1)檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定,。例如,,使用50mm標距引伸計測試鋼材試樣的P0.2技術數據,那么請您選擇1mm的檢定量程,。如果測量n值則需要檢定25mm的檢定量程,。
(2)對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點,。對于上述選例在1mm的檢定量程內,,好檢定10點,,即每0.1mm檢一點
(3)檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法,不要用游標估算讀數或小數尾數讀數,,因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞,估算讀數或小數尾數讀數會加劇測量誤差的產生,。而整數單刻線對整讀法清晰簡單準確,,出現誤差的機率小,即便出現也會及時發(fā)現,,因為整數刻度倍讀數的誤差,,其引伸計誤差值也會成倍數增加,這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現,。
4,、加長立柱的使用:在使用基本立柱檢定引伸計時,無法保證該引伸計的標距空間時,,取掉基本立柱上保護帽,,將加長立柱插入主立柱對準Ⅴ型槽,旋緊上螺帽,。一定要固緊后,,方可使用。
第四部分
配件維護與保養(yǎng)
隨本儀器配有測量附件
1,、組合校準桿2件,。用于組合多種模擬分離試樣。
2,、刀片4件,。裝置于組合校準桿上:用于COD或JIC夾規(guī)檢定。
3,、橫試片2件,。裝置于組合校準桿上:用于橫向引伸計的檢定。
4,、板件2件,。裝置于組合校準桿上:用于模擬板材試樣的檢定。
5,、Φ10×100桿1件,。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10mm以上直徑試樣的檢定。
6,、Φ10×50桿件1件,。置于測微頭連接套內用于模擬10mm以上直徑試樣的檢定。
7,、Φ10/中5×100變徑桿1件,。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5mm以下直徑試樣的檢定,。
8、Φ10/中5×50變徑桿1件,。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5mm以下直徑試樣的檢定,。
9、170mm加長立柱1件,。用于延長標定儀高度,。
10、聯接套1件,。置于微分測頭滑動量桿Φ10端頭上,,連接分離試樣進行檢定。
11,、為調試及安裝方便,,隨儀器配有14號呆扳手一把、3號內六角扳手一把,、一字頭,、十字頭螺絲刀各一把。
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