測(cè)試粒度,,需要通過專業(yè)的設(shè)備和方法對(duì)粉末粒度特性進(jìn)行測(cè)定的一項(xiàng)實(shí)驗(yàn),。在工業(yè),農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中應(yīng)用十分廣泛,。比如面粉、塑料,、造紙,、陶瓷,、藥品等。當(dāng)然不同的行業(yè)對(duì)粉體的特性標(biāo)準(zhǔn)要求是不一樣的,。在粉體的各種特性中,粒度分布是十分受關(guān)注的一項(xiàng)指標(biāo),。
了解平均粒度,,在進(jìn)一步生產(chǎn)研發(fā)上提供了更多的可能性,。
測(cè)試范圍:0.1μm~500μm
光 源:半導(dǎo)體激光器(波長(zhǎng)635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時(shí)以上)
測(cè)試方式:濕法測(cè)試
樣品濃度:0.5‰~1%(與樣品的比重,、顆粒大小、折射率有關(guān))
測(cè)試時(shí)間:少于1分鐘/次,,不含樣品分散時(shí)間
掃描速度:2000次/秒
重復(fù)性誤差:≦1%
電源:交流220V±10%50Hz或60Hz,,功率:80W
微機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn) RS-232串行接口
操作系統(tǒng):可在Windows所有版本的操作系統(tǒng)下運(yùn)行
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