在焊接件超聲波檢測工作中,選擇合適的探頭是發(fā)現(xiàn)缺陷,、并對缺陷定位和定量的關鍵,。因此在進行超聲波檢驗之前,一定要對檢驗對像有一個充分的了解,,對可能產生的缺陷有一定的認識,,從而根據這些情況來選擇探頭。
一,、頻率的選擇
頻率的大小主要影響探頭近場區(qū)的長度和半擴散角的大小,,頻率高,波長短,,聲束窄、擴散角小,,能量集中,,聲束指向性好,因為波長短,,對發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力強,,分辨力高,缺陷定位準確,。但是頻率高,,聲波在材料中的衰減大,穿透能力差,,頻率高,,近場區(qū)較大,對薄板工件發(fā)現(xiàn)近表面缺陷能力減弱,,在選擇探頭頻率時要綜合考慮,。對厚板對接焊縫應盡量選擇頻率小一些,一般取2MHz左右,;特別是鑄件和奧氏體不銹鋼件,,衰減大,頻率一般選0.5—1MH,,對中等厚度板對接焊縫可選擇頻率較大一些的探頭一般選擇2.5MHz的探頭,,薄板大頻率可選擇5MHz。
二,、晶片尺寸的選擇
晶片尺寸的大小決定了超聲波的發(fā)射功率,,晶片尺寸越大,發(fā)射功率越大,,晶片尺寸大,,半擴散角小,,聲束指向性好,信噪比優(yōu)于小晶片探頭,,未擴散區(qū)增大,,相對掃查的厚度范圍較大,對厚板應盡量選擇晶片尺寸大一些的探頭,,晶片尺寸大,,相對掃查寬度大,能夠提高工作效率,。晶片尺寸大,,近場較大,對于容器筒體或接管表面為曲面時為保證耦合,,探頭晶片不宜過大,。對于奧氏體不銹鋼焊縫,為了減少晶粒散射的面積,,應當選用大晶片探頭,。晶片尺寸大對于薄板材料來說近場大,對探傷不利,,在保證強度足夠的前提下盡量選擇晶片尺寸小一些的探頭,。方形晶片相對長方形晶片發(fā)射能量集中,在選擇晶片時,,應優(yōu)先選擇方形晶片,。
三、K值的選擇
K值對探傷靈敏度,、聲束軸線的方向,,一次波的聲程有較大的影響,對于有機玻璃制成的斜楔,,在K=0.84時,,聲壓往復透射率高,K值越大,,折射角大,,一次波的聲程大,當檢測厚壁工件時,,應選用較小的K值,,薄壁工件時,應選擇較大K值,,焊縫檢測過程中應保證主聲束能夠掃查整個焊縫截面,。應盡量使聲束垂直于可能產生的主要缺陷,對于焊縫根部的未焊透缺陷,,要考慮端角反射問題,,使用K=0.7—1.5左右的探頭,,超過這個范圍的K值端角反射率低。在選擇K值的過程中要根據檢測質量的要求,、板材厚度,,檢查的主要缺陷等情況綜合考慮合理選擇,如一種K值的探頭不能夠滿足檢測要求,,要同時選擇不同K值的探頭來滿足質量要求,。
四、探頭前沿的選擇
橫波斜探頭一般由壓電晶片,,吸聲材料,,斜楔,阻尼塊,,電纜線和外殼基本組成,。壓電晶片的振動包括厚度方向的振動和徑向振動,其中厚度方向的振動是對我們有利的,,而徑向振動是我們要消除的,。一般通過斜楔前端做成牛角形外加吸聲材料來消除,這些也只能減少徑向振動,,不能夠*的消除,仍有部分徑向波會傳導到工件上,,對主聲束的傳播產生一定的干涉,。因此,在選擇探頭的過程中,,在滿足一次波和二次波能夠掃查焊縫整個區(qū)域的前提下,,前沿可以選擇大一點,對于薄板,,為了保證聲束能夠掃查整個焊縫載面,,應選擇前沿相對較小一些,特別是對于薄壁管道的檢測,,要求盡量前沿短一些,。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,,未經本網授權不得轉載,、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,,應在授權范圍內使用,,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,,本網將追究其相關法律責任,。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任,。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,,必須保留本網注明的作品第一來源,,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容,、版權等問題,,請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯(lián)系,否則視為放棄相關權利,。