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電磁膜厚計LE-200J
- 內(nèi)置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級型號
- 測量范圍0-1500μm
- 小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
- 數(shù)據(jù)存儲1500點,，統(tǒng)計計算功能
主要規(guī)格
| 測量方式 | 電磁感應式 |
|---|---|
| 測量目標 | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 測量范圍 | 0-1500μm或60.00密耳 |
| 測量精度 | 小于15μm：±0.3μm,，15μm或以上：±2％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm |
| 符合標準 | JIS K5600-1-7,，JIS H8501,，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064,，ISO 1460,，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,，ASTM D 7091-5,，ASTM E 376 |
| 統(tǒng)計功能 | 測量次數(shù)，平均值,，標準偏差,，大值，小值,，程序段號 |
| 探測 | 單點接觸恒壓型（LEP-J） |
| 顯示方式 | 數(shù)字（LCD,，小顯示位數(shù)0.1μm） |
| 外部輸出 | RS-232C接口（傳輸速度2400bps） |
| 電源供應 | AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機x 6，打印機x 4 |
| 尺寸/質(zhì)量 | 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米,，1.0公斤 |
| 配件 | 標準板（10μm,，50μm,，100μm，350μm,，800μm,，1 mm，所有近似值,，各1張）,，鐵底座，標準板盒,，電池1.5 V（AA堿性）,，AC適配器，探針適配器,，打印機紙,，攜帶案件 |
| 選項 | L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜,，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”,，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”,，“ McWAVE Professional”,，“ MultiProp” |
|
膜厚計的種類和用途
對使用金屬的工業(yè)產(chǎn)品，在表面進行涂飾和鍍金等處理,。在表面處理層中,，薄的話容易產(chǎn)生腐蝕，厚的話經(jīng)濟損失會變大,，而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值,。也就是說，在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的,，承擔這一點的測定器是膜厚計,。
根據(jù)素地金屬和測定的涂層的組合，有測定原理不同的幾種陣容,，請選擇合適的種類,。
電磁膜厚計的測量原理 |
| 渦流膜厚計的測量原理 |
磁性核
使交流電磁鐵接近鐵（磁性金屬）的話，根據(jù)接近距離,，貫穿線圈的磁通數(shù)會發(fā)生變化,，因此線圈兩端的電壓會發(fā)生變化。
從電流值讀取該電壓變化
取,，換算成膜厚,。
可以測量磁性金屬上的非磁性涂層。
絕緣體鐵芯
如果將流過一定高頻電流的感應線圈靠近金屬,，金屬表面會產(chǎn)生渦流,。這個渦流根據(jù)感應線圈和金屬面的距離而變化,，因此感應線圈兩端的電壓也會變化。
將此變化從電流值轉(zhuǎn)換為讀取膜厚度,。可以測量非磁性金屬上的絕緣涂層,。
磁場
１次線圈電壓的變化
二次線圈涂層磁性金屬
磁場
子文件電壓的變化
皮膜被
非磁性金屬渦流
膜厚計的種類分類/可測量的基底和涂層
■：電磁膜厚計■：渦流膜厚計F：費舍爾鏡：可附帶條件?
※不銹鋼材質(zhì)有時不能根據(jù)條件進行測定。請事先咨詢,。□空欄部分的組合可能會有一部分可以測定,。請咨詢。
■附屬?選配標準板一覽（產(chǎn)品附帶的標準板與下表不同,，是實測的近似值）
容器種類 | 張數(shù) |
|
|
| 厚度（μm） |
|
|
| 材質(zhì) | |
LE-200J/LZ-200J | 6 | 10 | 50 | 100 | 350 |
| 800 | 1000 |
|
|
LH-200J | 5 | 10 | 50 | 100 | 350 |
| 800 |
|
|
|
LE-373/LZ-373 | 6 | 10 | 50 | 100 |
| 500 |
| 1000 | 1500 |
|
LH-373 | 5 | 10 | 50 | 100 |
| 500 |
| 1000 |
| 聚酯薄膜 |
LZ-990 | 3 |
| 50 | 100 |
|
|
| 1000 |
|
|
所有設備類型通用選項 | ー | 10 25 37 | 50 75 | 100 125 250 | 300 350 | 500 700 | 800 | 1000 | 1500 |
|
■探測一覽
類型 | 鋼筆型探頭（標準附屬）：LEP-J/LHP-J | 管內(nèi)面測定用探頭（選配件）：LEP-22 |
對應器種類 | LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373 | LE-200J |
尺寸 |
| |
類型 | L型探頭（選配件）：LEP-21L | |
對應器種類 | LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373 | |
|
■膜厚計適用規(guī)格一覽
測定方式 | 容器種類 | 規(guī)格 | |
電磁感應式 | LE-200J LE-373 | JIS K5600-1-7,、JIS H0401、JIS H8401,、JIS H8501,、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064,、ISO 2178,、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,、 ASTM D 7091-5,、ASTM E 376 | |
渦流式 | LH-200J LH-373 | JIS K5600-1-7、JIS H8501,、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360,、ISO 2808,、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5,、ASTM E 376 | |
雙重 | LZ-200J LZ-373 | 電磁感應式時 | JIS K5600-1-7,、JIS H0401、JIS H8401,、JIS H8501,、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064,、ISO 2178,、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,、ASTM D 7091-5,、ASTM E 376 |
類型 | LZ-990 | 渦流式的情況 | JIS K5600-1-7、JIS H8501,、JIS H8680-2 ISO 2064,、ISO 2360,、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244,、 ASTM D 7091-5,、ASTM E 376 |
電磁膜厚計LE-200J
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