射線探傷是利用射線穿透物質(zhì)的程度不同,，在穿透過程中具有一定的衰減規(guī)律，并能使用照相膠片發(fā)生感光作用或使某些化學(xué)元素和化合物發(fā)生熒光,，來發(fā)現(xiàn)被檢物體內(nèi)部缺陷的一種探傷方法,。因其具有無損檢測的特性，能在不破壞文物效果的基礎(chǔ)上對文物保存狀況,、修復(fù)前痕跡、相關(guān)歷史信息,、器物制作工藝特點(diǎn)等進(jìn)行一一分析,，因此在文物保護(hù)與研究工作中應(yīng)用廣泛,。

X射線探傷技術(shù)在文物領(lǐng)域的應(yīng)用始于19世紀(jì)20年代對紙質(zhì)文物藝術(shù)品的檢測。19世紀(jì)50年代時,，美國的博物館開始使用該技術(shù)檢測銅器，并獲得了較好的檢測成果,。截至目前，X射線探傷實(shí)現(xiàn)了以下5個方面的應(yīng)用,。

一、石膏包分析

X射線探傷技術(shù)能準(zhǔn)確探測出石膏包體內(nèi)部金屬物質(zhì)的位置以及金屬物質(zhì)的保存情況,，還能圈定骨器所在位置,，判斷骨器的材質(zhì)與類型,。石膏包體的X射線探傷必須具備可行條件（石膏包內(nèi)物質(zhì)的保存情況）,，否則探測效果會受到影響,，可能會出現(xiàn)穿透率降低,、無法探測的問題,。另外,，石膏包體內(nèi)骨器的保存環(huán)境比較惡劣，骨器長期儲存在腐蝕環(huán)境中,，其狀態(tài)只有在60kV的電壓條件下才能顯現(xiàn)出來,，不然無法進(jìn)行射線探測,。

二,、青銅器分析

X射線探傷應(yīng)用于青銅器分析時可以在無損傷條件下成功探測出青銅器的內(nèi)部結(jié)構(gòu),、腐蝕情況,、加固修復(fù)痕跡,，獲取芯撐,、范縫、補(bǔ)鑄等重要信息,，以及直接拍攝出銅鏡被覆蓋的銘文、紋飾,，探查青銅器制作工藝。

探測青銅器的X射線必須采用較高的管電壓,，以確保穿透青銅器內(nèi)部的銅,、鉛,、錫,，射線拍攝距離控制在60厘米,，所選擇的管電壓也要根據(jù)青銅器厚度的變化調(diào)整,。

三,、陶瓷鑒定

X射線探傷技術(shù)能夠清楚有效地鑒定接底陶瓷器,，從而避免肉眼觀察、熱釋光測年,、X射線熒光檢測等對器底部位形成判斷假象,，但現(xiàn)階段這一技術(shù)仍存在缺陷，如X射線會改變陶瓷器的熱釋光特性,，且X射線底片只能反映平面的二維影像,。

四、大型陶俑分析

由于陶俑質(zhì)地較薄極易被X射線穿透,，操作時要盡可能使用較低的管電壓和電流進(jìn)行測試,，對大型陶俑一般選擇60~100kV的管壓，管電流為3mA,。體型較大的陶俑需要進(jìn)行多次拍攝和拼接才能得到理想的結(jié)果,，拍攝時要注意光線、位置,、電壓,、電流等變量保持一致,，便于后續(xù)的拼接。

五,、脆弱質(zhì)文物軟X射線分析

 脆弱質(zhì)文物較金屬,、陶俑等文物更易被穿透，拍攝時常采用能量較低的射線進(jìn)行照射,。通過調(diào)節(jié)管電壓,，采用不同管電壓下的K60軟X射線（波長大于0.01nm）對不同材質(zhì)的脆弱質(zhì)文物進(jìn)行分析：竹木簡拍攝時管電壓一般為10~25kV，電流為2mA或2.5mA,；漆器拍攝時為發(fā)現(xiàn)其輪廓和腐蝕狀態(tài),，管電壓使用20~60kV，電流為2mA或2.5mA,；陶瓷器一般選擇35~80kV的管電壓,。