Thetametrisis膜厚儀的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在哪里

來(lái)源：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司 2020年09月29日 10:22

　　Thetametrisis膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米,，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面,。它可以配備一臺(tái)計(jì)算機(jī)控制的XY工作臺(tái),，使其快速、方便和準(zhǔn)確地描繪樣品的厚度和光學(xué)特性圖,。

　　Thetametrisis膜厚儀利用 FR-Mic,，通過(guò)紫外/ 可見(jiàn)/ 近紅外可輕易對(duì)局部區(qū)域薄膜厚度，厚度映射,，光學(xué)常數(shù),，反射率，折射率及消光系數(shù)進(jìn)行測(cè)量。

　　Thetametrisis膜厚儀使用優(yōu)勢(shì)：

　　1,、實(shí)時(shí)光譜測(cè)量,。

　　2、薄膜厚度,，光學(xué)特性,，非均勻性測(cè)量，厚度映射,。

　　3,、使用集成的，USB連接高品質(zhì)彩色攝像機(jī)進(jìn)行成像,。

　　4,、單擊即可分析 (無(wú)需初始預(yù)測(cè))。

　　5,、動(dòng)態(tài)測(cè)量,。

　　6、包含光學(xué)參數(shù) (n & k, color),。

　　7,、可保存測(cè)量演示視頻錄像。

　　8,、超過(guò) 600 種不同材料o 多個(gè)離線分析配套裝置o 免費(fèi)操作軟件升級(jí),。

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