JADE Standard—分析XRD數(shù)據(jù)得力工具
JADE
科學(xué)家信賴(lài)的產(chǎn)品
JADE
Scientist Trust XRD Applications
JADE智能化分析XRD數(shù)據(jù)
— 分析結(jié)果更快、更準(zhǔn)
- JADE采用啟發(fā)式方法自動(dòng)進(jìn)行分析,,自動(dòng)檢測(cè)文件格式;
- JADE可自動(dòng)擬合背景,、尋峰、鑒定物相以及標(biāo)定品質(zhì)因數(shù)(FOM),;
- JADE可批量進(jìn)行Rietveld分析,,分析結(jié)果可直接用于文章發(fā)表或?qū)W術(shù)報(bào)告;
- JADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析方法,,快速準(zhǔn)確提供分析結(jié)果,;
- JADE可兼容大部分晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù),,包括PDF數(shù)據(jù)庫(kù),,Amc, CIF等,支持用戶(hù)自定義數(shù)據(jù)庫(kù),;
- JADE獨(dú)立于硬件制造商,,專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)XRD數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件;
- JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式,,包括同步輻射,、理學(xué),布魯克(Siemens),馬爾文帕納科(Philips), ARL賽默飛(Scintag),島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數(shù)據(jù);
- JADE對(duì)任何衍射儀測(cè)試的數(shù)據(jù)均可得到無(wú)偏見(jiàn)的分析結(jié)果,,致力于追求準(zhǔn)確的,、無(wú)偏見(jiàn)的XRD分析和結(jié)果;
JADE Standard(標(biāo)準(zhǔn)版)
JADE Standard在基礎(chǔ)版本上,,有兩個(gè)可選功能模塊,,即Search/Match(S/M,物相檢索)和Whole PatternFitting (WPF,,全譜擬合,,終身授權(quán),無(wú)需更新,。結(jié)合PDF數(shù)據(jù)庫(kù),,是您分析粉末XRD數(shù)據(jù)的完美組合。
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