鍍層厚度分析儀簡介

鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀,、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀,、涂鍍層測試儀,、涂鍍層測量儀,、油漆測厚儀價格、油漆層測厚儀,、油漆膜厚儀,、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀,、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀,、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼,、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁,、鉻,、銅、琺瑯,、橡膠,、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅,、鋁、鋅,、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯,、橡膠、油漆,、塑料等）,。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高,、穩(wěn)定性好,、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器,，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè),、金屬加工業(yè)、化工業(yè),、商檢等檢測領(lǐng)域,。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段,。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中,，對鍍層厚度有了明確要求,。

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量,，測量范圍較小,，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。

工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損,、現(xiàn)場測量等優(yōu)點,，已在冶金、建材,、地質(zhì),、環(huán)保、商檢,、考古,、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應(yīng)用越來越廣泛,。*,，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標(biāo)。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求,，并且具有無損、在線,、簡便快速,、可實現(xiàn)自動控制等特點。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識,，對每一種化學(xué)元素的原子來說,，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行,。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,，成為自由電子，這時原子被激發(fā)了,，處于激發(fā)態(tài),。此時，其他的外層電子便會填補(bǔ)這一空位,，即所謂的躍遷,，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的,，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,，便可以確定相應(yīng)元素的存在,，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

鍍層厚度分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量,。導(dǎo)磁材料一般為：鋼,、鐵、銀,、鎳,。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量,。此種方法較磁性測厚法精度低,。

3.超聲波測厚法

目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器,，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合,。但一般價格昂貴，測量精度也不高,。

4.電解測厚法

此方法有別于以上三種,，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層,。一般精度也不高,。測量起來較其他幾種麻煩。

5.放射測厚法

此種儀器價格昂貴,，適用于一些特殊場合,。

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層，如涂層,、鍍層,、敷層、貼層,、化學(xué)生成膜等,，在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。覆層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法，厚度差測量法,，稱重法,，X射線熒光法，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等。

這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣,，速度慢，多適用于抽樣檢驗,。X射線和β射線法是無接觸無損測量,，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小,。因有放射源,，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用,。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型,、智能,、多功能、高精度,、實用化的方向進(jìn)了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%,，有了大幅度的提高。它適用范圍廣,，量程寬,、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行,。

鍍層厚度分析儀測量原理與儀器

一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀

磁鐵（測頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀,，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,，就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣,。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧,，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成,。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長,，拉力逐漸增大,。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度,。新型的產(chǎn)品可以自動完成這一記錄過程,。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便,、堅固耐用,、不用電源，測量前無須校準(zhǔn),，價格也較低,，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制。

二． 磁感應(yīng)測量原理鍍層厚度分析儀

采用磁感應(yīng)原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度,。覆層越厚,，則磁阻越大，磁通越小,。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上,。如果覆層材料也有磁性,，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,，儀器自動輸出測試電流或測試信號,。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小,，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度,。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相,、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路,，引入微機(jī),，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,，分辨率達(dá)到0.1um,，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm,。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層,，瓷、搪瓷防護(hù)層,，塑料,、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層,。

三． 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀

高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時,，就在其中形成渦流,。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大,，反射阻抗也愈大,。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,，所以通常稱之為非磁性測頭,。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料,。與磁感應(yīng)原理比較,，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同,，信號的大小,、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣,，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%,，量程10mm的高水平,。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量,，如航天航空器表面,、車輛、家電,、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,，通過校準(zhǔn)同樣也可測量,，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適,。

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上,。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器,，建議配備高精度的穩(wěn)壓電源。計算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）,。

3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來,。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放,。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）,。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定,。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃,。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路,，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸,。如果液體進(jìn)入儀器，請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員檢查儀器,。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和易爆場合,。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會造成讀數(shù)錯誤,。

9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物,。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物,。