隱裂直接影響光伏組件性能,，也是電池片生產中需要重點檢測分選的缺陷之一,，隨著光電技術和機器視覺圖像檢測技術的發(fā)展,，EL檢測儀成為太陽能隱裂等缺陷的主要手段，今天萊科斯科技公司重點就來和大家分選一下電池片隱裂產生原因和現(xiàn)在主流的檢測識別方法,。

  1,、什么是“隱裂”？

  隱裂是電池片常見的缺陷隱患,。

  由于晶體結構的自身特性,，晶硅電池片十分容易發(fā)生破裂。晶體硅組件生產的工藝流程長,，許多環(huán)節(jié)都可能造成電池片隱裂,。隱裂產生的本質原因，可歸納為在硅片上產生了機械應力或熱應力。

  近幾年,，晶硅組件廠家為了降低成本,，晶硅電池片一直向越來越薄的方向發(fā)展，從而降低了電池片防止機械破壞的能力,。

  2011年,，德國isfh公布了他們的研究結果：根據(jù)電池片隱裂的形狀,，可分為5類：樹狀裂紋,、綜合型裂紋、斜裂紋,、平行于主柵線,、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。

圖1：晶硅電池隱裂形狀

  2,、“隱裂”對組件性能的影響
  不同的隱裂形狀,、位置，對電池片功能造成的影響是不一樣的,，我們先來看一張電池片的放大圖片了解一下,。

圖2：晶硅電池片結構

  根據(jù)晶硅電池的結構，如上圖,，電池片產生的電流要依靠“表面的主柵線及垂直于主柵線的細柵線” 搜集和導出,。當隱裂導致細柵線斷裂時，細柵線無法將收集的電流輸送到主柵線,，將會導致電池片部分甚至全部失效,。

  基于上述原因，對電池片功能影響大的,，是平行于主柵線的隱裂（第4類）,。根據(jù)研究結果，50%的失效片來自于平行于主柵線的隱裂,。

  45°傾斜裂紋（第3類）的效率損失是平行于主柵線損失的1/4,。

  垂直于主柵線的裂紋（第5類）幾乎不影響細柵線，因此造成電池片失效的面積幾乎為零,。

  相比于晶硅電池表面的柵線,，薄膜電池表面整體覆蓋了一層透明導電膜，所以這也是薄膜組件無隱裂的一個原因,。

  有研究結果顯示,，組件中某單個電池片的失效面積在8%以內時，對組件的功率影響不大,，組件中2/3的斜條紋對組件的功率穩(wěn)定沒有影響,。因此，當組件中的電池片出現(xiàn)隱裂后,，可能會產生效率損失,，但不必談隱裂“色變”,。

  3、檢測“隱裂”缺陷的主要方法

  el（electroluminescence,，電致發(fā)光）是簡單有效的檢測隱裂的方法,。其檢測原理如下。

  電池片的核心部分是半導體pn結,，在沒有其它激勵（例如光照,、電壓、溫度）的條件下,，其內部處于一個動態(tài)平衡狀態(tài),，電子和空穴的數(shù)量相對保持穩(wěn)定。

  如果施加電壓,，半導體中的內部電場將被削弱,，n區(qū)的電子將會被推向p區(qū)，與p區(qū)的空穴復合（也可理解為p區(qū)的空穴被推向n區(qū),，與n區(qū)的電子復合）,，復合之后以光的形式輔射出去，即電致發(fā)光,。

當被施加正向偏壓之后,，晶體硅電池就會發(fā)光，波長1100nm左右,，屬于紅外波段,，肉眼觀測不到。因此,，在進行el測試時,，需利用ccd相機輔助捕捉這些光子，然后通過計算機處理后以圖像的形式顯示出來,。

  4,、總結

  1）隱裂有多種，并不是所有的隱裂都會影響電池片的性能,；

  2）在組件生產,、運輸、安裝和維護過程中,，考慮到晶硅組件的易裂特征,，還需在各工序段和搬運、施工過程中改進和細化作業(yè)流程,，減小組件隱裂的可能性,，同時在在原材料環(huán)節(jié)加強硅片隱裂檢測，避免有隱裂缺陷的原材料流入下道工序。

  3）EL檢測儀是目前簡單有效的檢測隱裂的方法,。