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鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有 1. 金相法 2. 庫(kù)侖法 3. X-ray方法,。
金相法：
采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面,，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法,。一般厚度檢測(cè)需要大于1um,，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大，誤差越小,。
庫(kù)侖法：適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法,，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度,。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度,，還可以測(cè)量圓柱形和線(xiàn)材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差,。測(cè)量鍍層的種類(lèi)為Au,、Ag、Zn,、Cu,、Ni、dNi,、Cr,。
X-ray方法：
適用于測(cè)定電鍍及電子線(xiàn)路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括：金(Au),，銀(Ag),，錫(Sn)，銅(Cu),，鎳(Ni),，鉻(Cr)等金屬元素厚度。
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