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Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合,，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學顯微鏡,、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成,。該系統(tǒng)通過的數(shù)字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,，通過的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀,、形象,、準確和測試范圍寬等特點?？梢杂^察顆粒形貌,，也可得到粒度分布等分析結果。
技術參數(shù)：
1,、 測量范圍：1～3000微米
2,、 zui大光學放大倍數(shù)：1600倍
3、 zui大分辨率：0.1微米/像素
4,、 準確性誤差：< ±3%(國家標準物質)
5,、 重復性偏差：< ±3%(國家標準物質)
6、 數(shù)據(jù)輸出：周長分布,、面積分布,、長徑分布、短徑分布,、周長相當徑分布,、面積相當徑分布、Feret徑分布,、長短徑比,、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）,、D30,、D97、個數(shù)長度平均徑,、個數(shù)面積平均徑,、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑,、長度體積平均徑,、面積體積平均徑、不均勻系數(shù),、曲率系數(shù),。
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