工程師要快速檢查信號質量,，眼圖測試有助于在極短時間內獲悉信號完整性狀況。

測試 DDR 接口信號質量時,，數(shù)據(jù)眼圖分析有助于揭示潛在的信號完整性問題,。因此，許多信號完整性工程師都使用眼圖功能迅速測定 DDR 接口性能,。雖然一致性測試能夠根據(jù) JEDEC 規(guī)范驗證數(shù)據(jù),、地址、控制和時鐘信號組的信號特性,，但無法靈活,、迅速地調試信號完整性問題,。眼圖測試的主要挑戰(zhàn)包括需要分離讀/寫周期，以及重疊數(shù)據(jù)突發(fā)的連續(xù)位,，以便根據(jù)簡單模板進行測試,。

一個突發(fā)長度內 DQ 眼圖與單位間隔重疊

R&S RTx-K91 DDR3 信號完整性和一致性測試軟件選件提供全面的 DDR3 一致性測試軟件，其中包括 DDR 眼圖功能以調試信號完整性問題,。
   該選件還能夠使用數(shù)據(jù),、選通相位差以及信號電平解碼讀/寫突發(fā)，從而識別讀/寫突發(fā),。

DDR 眼圖

不同于多種其他高速接口,，JEDEC DDR3 規(guī)范不需要進行眼圖測試；它可用于驗證信號質量,，但不提供任何模板信息,。DDR 讀/寫數(shù)據(jù)突發(fā)包括一個前置位，如果僅使用 DQS 選通校正定時,，則該前置位會導致難以簡單創(chuàng)建眼圖,。

R&S RTx-K91 選件還使用 DQS 上升沿和下降沿來校正 DQ 信號的不同轉換，但會在數(shù)據(jù)突發(fā)之前智能地省略前置位,，以便生成適用于測試的眼圖,。模板測試和限制

可以根據(jù) JEDEC 規(guī)范定義 DDR3 模板：數(shù)據(jù)設置 (tDS) 和保持時間 (tHD) 定義眼圖寬度；壓擺率以及輸入和輸出電壓電平定義垂直眼圖張開程度,。這種模板構建方法可用于快速測試信號完整性,。注意，在 DDR3 規(guī)范中,，信號定時和電平要求取決于實際信號壓擺率以及所選參考電平和數(shù)據(jù)率,。因此，用戶將需要定義符合設備特性的模板,，并進行正確配置,。

DDR3 眼圖模板定義示例

R&S RTO 和 R&S RTP 示波器標準模板測試功能可與 R&S RTx-K91 DDR3 眼圖工具結合使用。用戶可以定義所需模板配置文件,，并保存以用于后續(xù)測試,。通過波形指示模板違規(guī)情況（眼紋功能）,，并可以根據(jù) UI 序列制成表格,。用戶可以專注于各個違規(guī)事件，以便進一步分析和調試信號完整性問題,。

選通突發(fā)的 R&S RTP-K91 眼圖模板測試

分離讀/寫突發(fā)

評估 DQ/DQS 相位,、在命令總線上使用 MSO 邏輯探頭以及區(qū)域觸發(fā)等高級觸發(fā)方法有助于區(qū)分讀/寫周期。但是,，如果僅使用觸發(fā)方法捕獲信號,，將難以發(fā)現(xiàn)該觸發(fā)條件中未定義的其他信號異常問題,。因此，R&S RTx-K91 選件提供解碼功能,，可區(qū)分所捕獲波形中的所有讀/寫周期,。

使用 DQ 和 DQS 測定讀/寫突發(fā)

解碼功能能夠僅依據(jù) DQ 和 DQS 相位關系以及閾值遲滯更加簡單地識別讀/寫突發(fā)，無需探測其他控制信號,。用戶捕獲較長時間的 DQ 突發(fā),，以便創(chuàng)建寫眼圖和/或只讀眼圖以進行測試。建立眼圖之后,，可以使用模板測試,、直方圖和自動眼圖測量等分析工具。

顯示模板測試指示違規(guī)區(qū)域的寫周期測試

在 DRAM DDR3 接口測試中,，一致性測試可根據(jù) JEDEC 標準進行互操作性基準測量,。調試信號完整性問題時，需要使用模板測試,、眼圖工具和讀/寫周期分離等功能與工具協(xié)助進行分析,。R&S RTx-K91 選件可提供全面的一致性和調試功能以進行 DDR3 測試。

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