X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)

來(lái)源：深圳市藝慈儀器有限公司 2019年11月14日 10:15

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種快速的,、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。

XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后,，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候,，會(huì)放射出特征X光,；不同的元素會(huì)放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長(zhǎng)特性,。檢測(cè)器(Detector)接受這些X光,，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,，特別是在研究金屬,，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學(xué)研究,、法醫(yī)學(xué),、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管（EURoHS）和考古學(xué)等領(lǐng)域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補(bǔ),，減少工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室之分析人力投入,。

X射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn):

a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),，但一般都很短,，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),，而且跟固體,、粉末、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系,。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為顯著,。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。

c) 非破壞分析,。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,，結(jié)果重現(xiàn)性好,。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。

e) 分析精密度高,。

f) 制樣簡(jiǎn)單，固體,、粉末,、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

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