X熒光光譜儀ROHS檢測(cè)儀的分類,、應(yīng)用及工作原理

分類：ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,， X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢悾ㄩL(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀和能量色散X射線熒光光譜儀

應(yīng)用：利用X射線檢測(cè)ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量

工作原理：

1,、波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,，根據(jù)Bragg定律,，通過(guò)測(cè)定角度,，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng),；d為晶體的晶格間距,；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次,。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息,。

2,、能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：

Q=kE

式中,，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量,；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息,。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息,，除光譜儀外,，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理,。