鍍層測厚儀中N與FN之間的區(qū)別

鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法,，厚度差測量法,，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小,，X射線法可測薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步,，特別是近年來引入微機技術后,，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了一步,。測量的分辨率已達0.1微米,，精度可達到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。

F代表ferrous 鐵磁性基體，
F型的涂層測厚儀采用電磁感應原理,， 來測量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,，例如：漆,、粉末、塑料,、橡膠,、合成材料、磷化層,、鉻,、鋅、鉛,、鋁,、錫,、鎘、瓷,、琺瑯,、氧化層等。
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,，N型的鍍鋅層測厚儀采用電渦流原理,；來測量用渦流傳感器測量銅、鋁,、鋅,、錫等基體上的琺瑯、橡膠,、油漆,、塑料層等。