鍍層測厚儀中N與FN之間的區(qū)別
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,,光截法,電解法,,厚度差測量法,,稱重法,X射線熒光法,,β射線反向散射法,,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測,,測量手段繁瑣,速度慢,,多適用于抽樣檢驗,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,,X射線法可測薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步,,特別是近年來引入微機技術(shù)后,,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能,、高精度,、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,,精度可達到1%,,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,,量程寬,、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。
F代表ferrous 鐵磁性基體,,
F型的涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)原理, 來測量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層,、鍍層,例如:漆,、粉末,、塑料、橡膠,、合成材料,、磷化層、鉻,、鋅,、鉛、鋁,、錫,、鎘、瓷,、琺瑯,、氧化層等。
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,,N型的鍍鋅層測厚儀采用電渦流原理,;來測量用渦流傳感器測量銅,、鋁,、鋅、錫等基體上的琺瑯,、橡膠,、油漆、塑料層等。
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