日前,儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司楊正紅總經(jīng)理在長沙舉辦的“鋰電及多孔材料的粒度和形貌表征技術(shù)進展研討會”上高調(diào)介紹了Xigo系列膠體和懸浮液顆粒比表面積分析儀。
在液體中測顆粒的比表面積?
是的,,你沒有看錯——測定膠體、乳液和懸浮液中顆粒的比表面積,!
有什么用途,?
漿料體系的顆粒比表面積與顆粒在體系的分散狀態(tài)有關(guān),。比表面積能反映材料的許多性能,,例如:涂料的遮蓋能力,納米顆粒的改性和包覆效果,,乳液或漿料配方的穩(wěn)定性,,催化劑的活性、藥物的療效以及食物的味道等等,。但是,,目前的經(jīng)典方法是氣體吸附法測干燥固體的比表面。然而,,絕大多數(shù)的樣品無論是在生產(chǎn)過程中還是終使用時,,卻都是分散在液體中,通過制漿過程形成終產(chǎn)品,。因此,,必須知道樣品在懸浮液狀態(tài)下的比表面信息,而固體樣品的比表面積不具有代表性,。美國Xigo Nanotools公司為我們提供了的技術(shù)手段,,使得電池隔膜用陶瓷漿料、鋰電池正負(fù)極漿料、電子漿料,、墨水,、石墨烯和碳納米管漿料以及原料藥批次間的質(zhì)量控制有了快速簡便的解決方案,并且結(jié)合美國分散技術(shù)公司(DT)的聲學(xué)技術(shù),,可為漿料體系和納米粒子的粒度,、表面化學(xué)狀態(tài)或吸脫附狀態(tài)及微觀電學(xué)性質(zhì)的研究,為破解導(dǎo)致不同批次之間差異和配方不穩(wěn)定的原因提供了強有力的武器,。
什么原理,?
Xigo系列采用核磁共振技術(shù),探知乳液或懸浮體系中“顆粒”與“溶劑”之間的表面化學(xué),、親和性,、浸潤性,并在該狀態(tài)下計算顆粒的比表面積,。這一劃時代的分析手段可以直接測量懸浮液,,無需樣品處理,無需稀釋,,無顆粒形狀的限制,,測量過程僅需5分鐘,對研磨和粉碎過程可基本實現(xiàn)實時監(jiān)控,。因此,,該方法對任何大小、任何形狀的固體或液體顆粒,,特別是高濃體系樣品是理想的選擇,。由于軟件可以自動設(shè)定所要優(yōu)化的測量參數(shù),操作者幾乎不經(jīng)培訓(xùn)即可操作,,它將在品質(zhì)管控和改善,、縮短開發(fā)時間和工藝配方的篩選等方面提供助力。 儀思奇科技同時宣布,,即將引進法國技術(shù)公司(Cordouan Technologies)的產(chǎn)品進入中國,,包括Vasco kin原位時間分辨納米粒度分析儀和MAGELLAN(麥哲倫)痕量納米顆粒濃度測定儀。
Vasco kin 的突出特點就是不接觸樣品,,原位遠(yuǎn)程測定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布及隨時間的變化,,具有的分辨率,并且可以和其它分析手段聯(lián)用,。為制藥行業(yè)的反應(yīng)監(jiān)測和藥瓶中的蛋白質(zhì)聚集體納米階段的生成監(jiān)控,,甚至監(jiān)控和研究中藥湯劑在加熱過程中的粒度變化都提供了有效的技術(shù)手段。同時,,也是環(huán)境科學(xué),、功能化油墨,,油田化學(xué)、鋰電材料,、催化劑,、化妝品和食品等領(lǐng)域的動力學(xué)研究工具。
MAGELLAN(麥哲倫)痕量納米顆粒濃度測定儀用于水中納米顆粒的痕量表征,,靈敏度高于傳統(tǒng)的動態(tài)光散射技術(shù)一萬倍,,濃度測定低至ng/L的范圍,可對10nm到1000nm之間的顆粒進行計數(shù),,為水處理在線監(jiān)測,、超純水監(jiān)測、濾膜效率及完整性監(jiān)測以及過濾工藝,、污染檢測等提供了的計數(shù)手段,。結(jié)合法國ZetaCAD流動電位分析儀,MAGELLAN將我國膜分析技術(shù)跨上新臺階,!
儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司是“產(chǎn)學(xué)研商網(wǎng)”一體的儀器技術(shù)研發(fā)及應(yīng)用推廣的儀器科技創(chuàng)新與服務(wù)平臺,。公司于在新能源領(lǐng)域、生物醫(yī)藥,、催化基礎(chǔ)與應(yīng)用研究等領(lǐng)域的顆粒特性表征的前沿儀器產(chǎn)品和技術(shù)的引進與推廣,。自2019年6月起,儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司正式成為美國XIGO NANOTOOLS公司在中國區(qū)的,,全權(quán)負(fù)責(zé)該公司全系產(chǎn)品在中國境內(nèi)的推廣銷售及售后服務(wù)工作,。法國技術(shù)公司(Cordouan Technologies)納米測量儀器的引入,更是了國內(nèi)納米科學(xué)研究技術(shù)手段的,,對儀思奇目前擁有的Occhio圖像法粒度粒形和zeta電位分析技術(shù),,超聲法粒度和zeta電位分析技術(shù)是一個的補充,使公司能夠提供(粒度)從納米到厘米,,(固含量)從極稀到極濃的體系的解決方案,,納米顆粒分析研究將如虎添翼!
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