一、教學(xué)內(nèi)容及安排
實(shí)驗(yàn)一,、晶體對稱與晶體分類(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模和ㄟ^分析晶體模型,理解和鞏固晶體對稱的概念,了解晶體對稱的特點(diǎn)。學(xué)會(huì)在晶體上尋找對稱要素,,確定對稱型、晶系和晶族,。
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
(1)學(xué)會(huì)尋找對稱面、對稱心,、對稱軸和旋轉(zhuǎn)反伸軸,。
(2)對晶體模型確定其所屬晶類(對稱型)、晶系和晶族,。
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:木制模型。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):木制模型6人一套
實(shí)驗(yàn)二,、單形和聚形(2學(xué)時(shí),驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)認(rèn)識47種單形
(2)了解各種單形在各晶族晶系中的分布
(3)深入理解單形和聚形的概念,,掌握從聚形中分析單形的方法
2、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1)認(rèn)識47單形,,熟練掌握其中重點(diǎn)的25種單形,。
(2)從聚形中分析單形,,結(jié)合所給模型分析聚形,,將分析結(jié)果記入鑒定表。
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:木制模型,。
4、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):木制模型6人一套
實(shí)驗(yàn)三,、晶體定向及估計(jì)晶面符號(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)進(jìn)一步鞏固晶軸、軸單位,、晶體常數(shù),、晶面符號(米氏符號)、單位面的概念,。
(2)學(xué)會(huì)晶體定向的方法,、學(xué)會(huì)確定晶面符號和單形符號。
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
根據(jù)給出的晶體模型,,分析對稱型、確定所屬晶系,,再根據(jù)不同晶系晶體的定向方法對晶體進(jìn)行定向,,zui后確定單形名稱和符號。
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:木制模型,。
4、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):木制模型6人一套
實(shí)驗(yàn)四,、偏光顯微鏡的使用及單偏光鏡下解理和多色性的觀察(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)掌握偏光顯微鏡的構(gòu)造,、裝置及各部件的名稱,、用途、使用規(guī)則
(2)初步掌握偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和中心校正
(3)掌握偏光顯微鏡下觀察礦物的解理等級,,認(rèn)識多色性現(xiàn)象
(4)掌握兩組解理夾角的測量方法
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1)認(rèn)識顯微鏡的構(gòu)造
(2)用黑云母(56#或81#)檢查上下偏光的振動(dòng)方向
(3)觀察角閃石的形態(tài)和顏色
(4)觀察黑云母(57?;?1#),、普通角閃石(14#或38#)及橄欖石(82#)的解理等級
(5)觀察黑云母的多色性
(6)測量普通角閃石兩組解理夾角
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡,、薄片。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)五,、單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)-相對折光率的觀察與比較(2學(xué)時(shí),驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?BR>(1)進(jìn)一步理解突起,、糙面、貝克線及閃突起的含義
(2)掌握相對折光率的觀察和比較方法,。
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1)、觀察石榴子石、橄欖石,、普通角閃石,、石英、螢石的突起,、糙面及貝克線移動(dòng)情況,,判斷折光率的相對大小。
(2),、觀察方解石的閃突起現(xiàn)象
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)六、正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)-消光類型,、干涉色級序,、重折率測定(2學(xué)時(shí),驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1),、掌握礦物切片的三種消光類型。
(2),、掌握石英楔子干涉色級序
(3),、學(xué)會(huì)用色圈法,判斷礦片的干涉色級序,。
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1)均質(zhì)體及垂直于光軸切面的消光現(xiàn)象的觀察
(2)觀察普通角閃石的消光類型
(3)觀察石英楔子的干涉色級序及其特征
(4)用色圈法確定橄欖石(82#)、普通角閃石(14?;?8#),、石英(54#)的zui高干涉色級序,并從干涉色色譜表中查出上述三種礦物相應(yīng)的雙折射率
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡,、薄片。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)七,、正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)-定軸名、測延性,、測zui大消光角(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)利用試板測定光率體橢圓半徑的方向及名稱
(2)掌握延性的概念及延性符號的測定方法
(3)掌握zui大消光角的測定方法
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1)觀察黑云母(56#)和紅柱石(48#)的縱切面干涉色級序,并測定縱切面光率體橢圓半徑的名稱及延性符號
(2)觀察普通角閃石(14#)不同切面的干涉色級序
(3)選擇普通角閃石(14#)zui高干涉色切面,測定其zui大消光角及延性符號,。
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)八、錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)觀察-一軸晶干涉圖(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)、了解錐光裝置,。
(2),、掌握一軸晶各種類型干涉圖的形象特點(diǎn)。
(3),、學(xué)會(huì)用一軸晶垂直于光軸切面和斜交光軸切面干涉圖,,測定光性符號。
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
觀察石英垂直于光軸的切面,、方解石垂直于光軸的切面、電氣石(30#)垂直于光軸的切面(自己在薄片中找)的干涉圖,,并確定它們的光性符號
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)九、錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)-二軸晶干涉圖(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1)認(rèn)識二軸晶主要類型干涉圖的形象。
(2)學(xué)會(huì)用二軸晶垂直于Bxa切面和垂直于光軸的切面干涉圖確定光性符號的方法
2,、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
觀察白云母垂直于Bxa切面,、輝石(6#)垂直于光軸的切面自己在薄片中找、黑云母(81?;?8#)垂直于Bxa切面(自己在薄片中找,近于六邊形)的干涉圖,,并確定它們的光性符號,估計(jì)2V大小
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡,、薄片。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)十,、礦物的系統(tǒng)鑒定(綜合性實(shí)驗(yàn))(2學(xué)時(shí),,綜合性)
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>1 全面總結(jié)晶體光學(xué)的基本理論,、基本知識和基本方法,。
2學(xué)會(huì)系統(tǒng)鑒定非均質(zhì)體礦物的基本方法和程序。
3 學(xué)會(huì)使用造巖礦物鑒定表,。
4要求能對未知礦物進(jìn)行系統(tǒng)鑒定,。
2、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
全面總結(jié)晶體光學(xué)的基本知識和方法,,觀察鑒定未礦物,。要求通過未礦物的觀察,寫出單偏光下礦物的光性特征,、正交偏光鏡下礦物的光性特征,,錐光鏡下礦物的光性特征,并確定礦物的名稱,。
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái)
實(shí)驗(yàn)十一、均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物(2學(xué)時(shí),,驗(yàn)證性)
1,、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?BR>(1) 掌握常見的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的肉眼鑒定特征及描述方法,著重注意礦物的形態(tài),、顏色,、光澤、解理,、斷口,、硬度及相對密度。
(2) 掌握常見的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的主要特征,,注意相似礦物的鏡下區(qū)別,。
2、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
(1) 肉眼觀察描述下列礦物:
螢石(礦48),、石榴子石(礦70),、石英(礦64)、磷灰石(礦47),、方解石(礦69),、白云石(礦新11)、菱鎂礦(礦28)
(2) 鏡下觀察描述下列礦物:
螢石(85#),、石榴子石(56#),、石英(54#),、磷灰石(礦47)、霞石(42#),、方解石(61#),、菱鎂礦(礦28)
3,、主要實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備名稱:偏光顯微鏡,、薄片、手標(biāo)本,。
4,、每臺(tái)套主要儀器設(shè)備每次實(shí)驗(yàn)學(xué)生數(shù):偏光顯微鏡1人/臺(tái),薄片1人/盒,,手標(biāo)本6人/套