一,、教學內(nèi)容及安排
實驗一,、晶體對稱與晶體分類（2學時，驗證性）
1,、實驗目的：通過分析晶體模型,，理解和鞏固晶體對稱的概念，了解晶體對稱的特點,。學會在晶體上尋找對稱要素,，確定對稱型、晶系和晶族,。
2,、實驗內(nèi)容：
（1）學會尋找對稱面、對稱心,、對稱軸和旋轉(zhuǎn)反伸軸,。
（2）對晶體模型確定其所屬晶類（對稱型）、晶系和晶族,。
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：木制模型。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：木制模型6人一套

實驗二,、單形和聚形（2學時，驗證性）
1,、實驗目的
（1）認識47種單形
（2）了解各種單形在各晶族晶系中的分布
（3）深入理解單形和聚形的概念,，掌握從聚形中分析單形的方法
2、實驗內(nèi)容
（1）認識47單形,，熟練掌握其中重點的25種單形,。
（2）從聚形中分析單形，結(jié)合所給模型分析聚形,，將分析結(jié)果記入鑒定表,。
3、主要實驗儀器設(shè)備名稱：木制模型,。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：木制模型6人一套

實驗三,、晶體定向及估計晶面符號（2學時,，驗證性）
1,、實驗目的
（1）進一步鞏固晶軸、軸單位,、晶體常數(shù),、晶面符號（米氏符號）、單位面的概念,。
（2）學會晶體定向的方法,、學會確定晶面符號和單形符號。
2,、實驗內(nèi)容
    根據(jù)給出的晶體模型,，分析對稱型、確定所屬晶系,，再根據(jù)不同晶系晶體的定向方法對晶體進行定向,，zui后確定單形名稱和符號。
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：木制模型,。
4、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：木制模型6人一套

實驗四,、偏光顯微鏡的使用及單偏光鏡下解理和多色性的觀察（2學時,，驗證性）
1、實驗目的
（1）掌握偏光顯微鏡的構(gòu)造,、裝置及各部件的名稱,、用途、使用規(guī)則
（2）初步掌握偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和中心校正
（3）掌握偏光顯微鏡下觀察礦物的解理等級,，認識多色性現(xiàn)象
（4）掌握兩組解理夾角的測量方法
2,、實驗內(nèi)容
（1）認識顯微鏡的構(gòu)造
（2）用黑云母（56＃或81＃）檢查上下偏光的振動方向
（3）觀察角閃石的形態(tài)和顏色
（4）觀察黑云母（57?；?1＃）,、普通角閃石（14＃或38＃）及橄欖石（82＃）的解理等級
（5）觀察黑云母的多色性
（6）測量普通角閃石兩組解理夾角
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡,、薄片。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗五,、單偏光鏡下的晶體光學性質(zhì)－相對折光率的觀察與比較（2學時，驗證性）
1,、實驗目的：
（1）進一步理解突起,、糙面、貝克線及閃突起的含義
（2）掌握相對折光率的觀察和比較方法。

2,、實驗內(nèi)容
（1）,、觀察石榴子石、橄欖石,、普通角閃石,、石英、螢石的突起,、糙面及貝克線移動情況,，判斷折光率的相對大小。
（2）,、觀察方解石的閃突起現(xiàn)象
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗六、正交偏光鏡下的晶體光學性質(zhì)－消光類型,、干涉色級序,、重折率測定（2學時，驗證性）
1,、實驗目的
（1）,、掌握礦物切片的三種消光類型。
（2）,、掌握石英楔子干涉色級序
（3）,、學會用色圈法，判斷礦片的干涉色級序,。
2,、實驗內(nèi)容
（1）均質(zhì)體及垂直于光軸切面的消光現(xiàn)象的觀察
（2）觀察普通角閃石的消光類型
（3）觀察石英楔子的干涉色級序及其特征
（4）用色圈法確定橄欖石（82＃）、普通角閃石（14?；?8＃）,、石英（54＃）的zui高干涉色級序，并從干涉色色譜表中查出上述三種礦物相應(yīng)的雙折射率
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡,、薄片。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗七,、正交偏光鏡下的晶體光學性質(zhì)－定軸名、測延性,、測zui大消光角（2學時,，驗證性）
1,、實驗目的
（1）利用試板測定光率體橢圓半徑的方向及名稱
（2）掌握延性的概念及延性符號的測定方法
（3）掌握zui大消光角的測定方法
2、實驗內(nèi)容
（1）觀察黑云母（56＃）和紅柱石（48＃）的縱切面干涉色級序,，并測定縱切面光率體橢圓半徑的名稱及延性符號
（2）觀察普通角閃石（14＃）不同切面的干涉色級序
（3）選擇普通角閃石（14＃）zui高干涉色切面,，測定其zui大消光角及延性符號。
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗八、錐光鏡下的晶體光學性質(zhì)觀察－一軸晶干涉圖（2學時,，驗證性）
1,、實驗目的
（1）、了解錐光裝置,。
（2）,、掌握一軸晶各種類型干涉圖的形象特點。
（3）,、學會用一軸晶垂直于光軸切面和斜交光軸切面干涉圖,，測定光性符號。
2,、實驗內(nèi)容
     觀察石英垂直于光軸的切面,、方解石垂直于光軸的切面、電氣石（30＃）垂直于光軸的切面（自己在薄片中找）的干涉圖,，并確定它們的光性符號
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗九、錐光鏡下的晶體光學性質(zhì)－二軸晶干涉圖（2學時,，驗證性）
1,、實驗目的
（1）認識二軸晶主要類型干涉圖的形象。
（2）學會用二軸晶垂直于Bxa切面和垂直于光軸的切面干涉圖確定光性符號的方法
2,、實驗內(nèi)容
    觀察白云母垂直于Bxa切面,、輝石（6#）垂直于光軸的切面自己在薄片中找、黑云母（81?；?8＃）垂直于Bxa切面（自己在薄片中找,近于六邊形）的干涉圖,，并確定它們的光性符號，估計2V大小
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡,、薄片。
4、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗十,、礦物的系統(tǒng)鑒定（綜合性實驗）（2學時,，綜合性）
1、實驗目的
1 全面總結(jié)晶體光學的基本理論,、基本知識和基本方法,。
2學會系統(tǒng)鑒定非均質(zhì)體礦物的基本方法和程序。
3 學會使用造巖礦物鑒定表,。
4要求能對未知礦物進行系統(tǒng)鑒定,。
2、實驗內(nèi)容
    全面總結(jié)晶體光學的基本知識和方法,，觀察鑒定未礦物,。要求通過未礦物的觀察，寫出單偏光下礦物的光性特征,、正交偏光鏡下礦物的光性特征,，錐光鏡下礦物的光性特征，并確定礦物的名稱,。
3,、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡、薄片,。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺

實驗十一、均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物（2學時,，驗證性）
1,、實驗目的
（1） 掌握常見的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的肉眼鑒定特征及描述方法，著重注意礦物的形態(tài),、顏色,、光澤、解理,、斷口,、硬度及相對密度。
（2） 掌握常見的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的主要特征,，注意相似礦物的鏡下區(qū)別,。
2、實驗內(nèi)容
（1） 肉眼觀察描述下列礦物：
螢石（礦48）,、石榴子石（礦70）,、石英（礦64）、磷灰石（礦47）,、方解石（礦69）,、白云石（礦新11）,、菱鎂礦（礦28）
（2） 鏡下觀察描述下列礦物：
螢石（85＃）、石榴子石（56＃）,、石英（54＃）,、磷灰石（礦47）、霞石（42＃）,、方解石（61＃）,、菱鎂礦（礦28）
3、主要實驗儀器設(shè)備名稱：偏光顯微鏡,、薄片,、手標本。
4,、每臺套主要儀器設(shè)備每次實驗學生數(shù)：偏光顯微鏡1人/臺，薄片1人/盒,，手標本6人/套