Filmetrics F20薄膜測厚儀

經濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統,測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量,、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統,、在線監(jiān)測等功能型號的膜厚測試儀產品。Filmetrics 膜厚測試儀產品輕點鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度,。幾乎所有的材料都可以被測量,。直觀的設計意味著您能在幾分鐘內完成個薄膜厚度測量！
產品介紹：
1 有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm),；
2 大樣品薄膜厚度的測量范圍是：3nm ～ 25um,；
3 精度為好于0.1nm。

產品特性：
1 ,、操作簡單,、使用方便；
2 ,、測量快速,、準確；
3 ,、體積小,、重量輕；
4 ,、價格便宜,。

產品應用：
1 、半導體行業(yè): 光阻,、氧化物,、氮化物；
2 ,、 LCD 行業(yè): 液晶盒間隙厚度,、 Polyimides；
3 ,、光電鍍膜應用: 硬化膜,、抗反射膜、濾波片,。

的技術
我們通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度,。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,，幾秒鐘之內就能測出：薄膜厚度,，折射率，甚至粗燥度,！