·出現(xiàn)沸騰表面,、起泡表面或易生成泡沫液面時(shí),，使用FMR53或FMR54測(cè)量。根據(jù)泡沫的具體成份,，泡沫可以吸收微波,，或微波在泡沫表面發(fā)生發(fā)射。在特定條件下,，測(cè)量仍可進(jìn)行,。使用FMR50、FMR51和FMR52測(cè)量時(shí),，建議選擇附加選項(xiàng)“動(dòng)態(tài)響應(yīng)”(訂購選項(xiàng)540:“應(yīng)用軟件包”,，選型代號(hào):EM)。

　　·出現(xiàn)嚴(yán)重蒸汽或冷凝現(xiàn)象時(shí),，E+H雷達(dá)物位計(jì)FMR50,、FMR51和FMR52的大測(cè)量范圍可能會(huì)減小，取決于蒸汽的密度,、溫度和成份>請(qǐng)使用FMR53或FMR54測(cè)量,。

　　·測(cè)量吸附性氣體時(shí)，例如:氨氣NH3或某些碳?xì)浠衔?),，請(qǐng)?jiān)趯?dǎo)波管中使用Levelflex或Micropilot FMR54測(cè)量,。

　　·波束射至罐底的位置即為量程起點(diǎn)。特別是在圓盤底罐或帶錐形出料口的罐體中,，物位低于此點(diǎn),，便無法測(cè)量。

　　·在導(dǎo)波管中測(cè)量時(shí),，電磁波不會(huì)*擴(kuò)散至導(dǎo)波管外部,，應(yīng)將零點(diǎn)設(shè)置在導(dǎo)波管底部。在C范圍內(nèi)測(cè)量時(shí),，測(cè)量精度將降低,。為了確保此類應(yīng)用場(chǎng)合中所需的測(cè)量精度，建議將零點(diǎn)設(shè)置在導(dǎo)波管底部上方的C。

　　·測(cè)量低介電常數(shù)的介質(zhì)時(shí)(e,=1...4)3),，如果介質(zhì)處于較低物位(低于C),罐底可見,。在此范圍內(nèi)測(cè)量時(shí)，精度將降低,。如無法接受,，在此類應(yīng)用場(chǎng)合中，建議將零點(diǎn)設(shè)置在罐底上方的C,。

　　·理論上,，E+H雷達(dá)物位計(jì)大可測(cè)量至FMR51、FMR53和FMR54天線末端,。但是,，考慮腐蝕和粘附的影響，大量程與天線末端間的距離不得小于A,。

　　·使用帶平面天線的FMR54測(cè)量時(shí)，特別是測(cè)量低介電常數(shù)的介質(zhì)時(shí),，大量程與法蘭間的距離不得小A:1 m(3.28 ft),。

　　小測(cè)量范圍B取決于天線類型。.罐體高度應(yīng)至少為H(參考下表),。