晶振測試儀的主要測試哪些參數(shù)
CX-118A型晶振測試儀
1.概述
CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù),實現(xiàn)了智能化測量,。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量,。它測量精度高,靈敏度高,,速度快,,閘門時間可選;具有頻率測量,、周期測量,、PPM測量、分檔測量,、上下限測量,、累加計數(shù)等功能;中心頻率(標稱頻率)F0,、分檔值Pr1~Pr8(ppm) ,、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲,。該機前置電路有低通濾波器,、衰減器等。特別適合晶體行業(yè),、郵電,、通信、廣播電視,、學校,、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。
2.主要特征
2.1 本機采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù),,測量精度高,,測量范圍寬,真正實現(xiàn)等精度測量,,測量速度快,,靈敏度高。
2.2 采用單片微機技術(shù)進行周期頻率測量和智能化管理,,使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能/價格比,。
2.3 整機采用大規(guī)模集成電路設計,CPLD器件的運用,,使儀器元器件大為減少,,可靠性有了很大的提高,,平均*工作時間≥10000h。
· 整機外型美觀大方,,體積小,,重量輕,使用方便,。
3.技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
· 頻率測量:A通道:1Hz~100MHz,;
B通道:100MHz~1.6GHz(選件)
· 周期測量:A通道:10ns~1s
· PPM測量:-9999~9999ppm
· 上、下限測量:可根據(jù)用戶所設定的上限參數(shù)FU,、下限參數(shù)FL來測量被測頻率是否超出上,、下限,超限則報警,。
· 分檔測量:根據(jù)用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量,。 分檔值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之間任意設置
分檔檔數(shù):以中心頻率F0為中點左右分成16檔
· 累加計數(shù):計數(shù)容量:0~109-1 (選件)
計數(shù)方式:鍵控、門控或外門控可選,。
3.2 輸入特性
· 輸入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 輸入耦合方式:AC
3.2.3 波形適應性:正弦波,、脈沖波
· 輸入電壓動態(tài)范圍:
A通道:30mVrms~250Vp~p
B通道: 30mVrms~1Vrms
3.2.5 A通道低通濾波器:-3dB 帶寬約100kHz
3.2.6 A通道衰減:×1或×20
3.3 測量誤差
3.3.1 頻率或周期測量誤差:±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
100ns
其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)
閘門時間
觸發(fā)誤差:當被測信號的信噪比為40dB時,觸發(fā)誤差≤0.3%
· PPM測量誤差:±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
其中:LSD=(100ns/閘門時間)×106ppm
例如:閘門時間=1s時 LSD=0.1ppm
閘門時間=0.1s時 LSD=1ppm
3.3.3 計數(shù)誤差:±1
3.4閘門時間
固定閘門:10ms,、100ms,、1s、10s 四檔可選,;
可調(diào)閘門:50ms~95ms 分10檔,,每檔間隔5ms。
3.5 晶體振蕩器
標稱頻率:10MHz
頻率穩(wěn)定度:5×10-6/d
(可根據(jù)用戶需求,,選配更高量級的晶振,。
如:1×10-6/d、5×10-7/d,、1×10-7/d等),。
3.6 外頻標輸入
輸入頻率:10MHz
輸入幅度:>1Vp~p 正弦波
3.7 顯示
13位0.4吋綠色高亮數(shù)碼管,三個單位LED指示燈(MHz,、kHz,、Hz),一個閘門LED指示燈(GATE),,一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈(PPM),。
3.8 電源
電壓:交流220V±10%
頻率:50Hz±5%
功耗:<8VA
3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)
3.10 質(zhì)量:<1.5kg
晶振測試盒選配:
晶體測量匹配器:
1Hz-20MHz (標配)
20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz
65MHz-100MHz .
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