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據了解,，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光,，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的,，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論,，波長是能量的倒數，波長短能量大,，容易產生雜散光,，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論,，氘燈在220nm處能量很小,，即信號很小，容易顯現雜散光,；③根據儀器學理論中的光電發(fā)射理論,，光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低，容易顯現雜散光,。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時容易產生雜散光,。所以,，對于紫外可見分光光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光,。
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟：
1,、首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內,。再測定波段掃描基線并使之平滑,。
2,、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數即為減光片的衰減值K,，然后將減光片插入參比光路的濾光片座內，
3,、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描,、打?。辉谟涗浖埖淖鳂松狭咳y定波長處的透光度,，乘以衰減值K,，即得各測定波長處的雜散光值。
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