四探針探頭的選擇

來源：寧波旗辰儀器有限公司 2018年03月12日 08:46

四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇

四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇：

四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件,。探頭通過四根探針,，以適當(dāng)?shù)膲毫忘c(diǎn)陣形式與樣品接觸，連接四探針儀器后,，實(shí)現(xiàn)四探針法電流的加載,，電壓的取樣。應(yīng)根據(jù)樣品的物理特性,，如是固體還是粉末,，是一般硅片,、金屬等硬質(zhì)材料還是柔性薄膜、涂層,、ITO膜類材料,，是單一導(dǎo)電層材料還是復(fù)合導(dǎo)電層，樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點(diǎn)陣形式,，選擇型號,。

表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》

序號	型號	名稱	特征圖片	規(guī)格參數(shù)	選用場合
1	ST2253-F01	鎢針直線四探針探頭		直線四探針針距：1+1+1，探針：碳化鎢針	硅片,、金屬等硬材料電阻率/方阻測試
2	ST2558A-F01	光伏電池片方阻直線四探針探頭		直線四探針針距：2+2+2,，探針：長鋼尖針	硅材料光伏電池片方阻測試
3	ST2558A-F02	薄膜方阻刀型測試臺		刀型測試臺刀距100，刀寬100	柔性薄膜,、金屬涂層膜方阻測試
4	ST2558B-F01	薄膜方阻直線四探針探頭		直線四探針針距：2+2+2,，探針：鍍金磷銅半球形針尖	柔性薄膜、金屬涂層膜,、ITO膜電阻率/方阻測試
5	ST2558B-F02	箔上涂層電阻率方阻四端子探頭		針距8，直徑4探針：圓柱平端面	箔上涂層電阻率/方阻測試
6	ST2558B-F03	薄膜方阻直線四探針探頭		直線四探針針距1+1+1,，探針：鍍金磷銅半球形針尖	柔性薄膜,、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試
7	ST2571A-F01	薄膜方阻矩形四探針探頭		矩形四探針針距1X1探針：碳化鎢針	硅片電阻率和方阻儀
8	ST2571A-F02	薄膜方阻矩形四探針探頭		矩形四探針針距1X1探針：鍍金磷銅半球形針尖	柔性薄膜,、金屬涂層膜,、ITO膜電阻率/方阻測試
9	ST2571A-F03	薄膜方阻矩形四探針探頭		矩形四探針針距2X2探針：鍍金磷銅半球形針尖	柔性薄膜、金屬涂層膜,、ITO膜電阻率/方阻測試

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