方阻測(cè)量時(shí)探頭的關(guān)系

方阻也稱為方塊電阻,，指一個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊間的電阻作為描述,。

涂層類(lèi)，鍍膜類(lèi)產(chǎn)品基本上都是通過(guò)測(cè)量方阻的形式來(lái)衡量樣品的厚度,。

方塊電阻有一個(gè)特性,，即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的

影響方阻的因素主要有以下幾個(gè)方面：

探針與邊緣的距離；

探針之間的等距離

一般測(cè)量方阻的儀器有手持式和臺(tái)式兩種,，這也是目前市場(chǎng)上比較常見(jiàn)的,，

手持式的FT-392手持式四探針測(cè)試儀;臺(tái)式的FT-331四探針?lè)阶铚y(cè)試儀；

手持式的精度一般都比臺(tái)式的低些,，臺(tái)式的量程寬些,，當(dāng)然，精度也高很多,。

方阻儀測(cè)量特別注意對(duì)探頭的保護(hù),，探針的保護(hù)是非常重要的，我們很多使用者,，從出現(xiàn)探針被弄壞,，探針丟失，探針沒(méi)有彈性,，以及探針形變等,，這些都是由于保管不到位造成的，正常情況下,，一付探針的使用壽命可以達(dá)到3年左右,，比較頻繁的使用條件下。

方阻測(cè)試對(duì)環(huán)境要求也是比較高的,，建議在相當(dāng)恒定的環(huán)境下測(cè)量,，減少溫度，濕度偏差及其他不確定性操作的數(shù)據(jù)偏差,，

同時(shí)建議在測(cè)試中，采用PC軟件來(lái)做分析,，這樣可以觀察過(guò)程數(shù)據(jù)變化及數(shù)據(jù)的保存等,，都是不錯(cuò)的選擇,。