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方阻測量時探頭的關系

來源:寧波瑞柯微智能科技有限公司   2018年01月12日 11:53  

方阻測量時探頭的關系

方阻也稱為方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊間的電阻作為描述,。

涂層類,,鍍膜類產品基本上都是通過測量方阻的形式來衡量樣品的厚度。

方塊電阻有一個特性,,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的

影響方阻的因素主要有以下幾個方面:

探針與邊緣的距離,;

探針之間的等距離

一般測量方阻的儀器有手持式和臺式兩種,這也是目前市場上比較常見的,,

手持式的FT-392手持式四探針測試儀;臺式的FT-331四探針方阻測試儀,;

手持式的精度一般都比臺式的低些,臺式的量程寬些,,當然,,精度也高很多。

方阻儀測量特別注意對探頭的保護,,探針的保護是非常重要的,,我們很多使用者,從出現探針被弄壞,,探針丟失,,探針沒有彈性,以及探針形變等,,這些都是由于保管不到位造成的,,正常情況下,,一付探針的使用壽命可以達到3年左右,比較頻繁的使用條件下,。

方阻測試對環(huán)境要求也是比較高的,,建議在相當恒定的環(huán)境下測量,減少溫度,,濕度偏差及其他不確定性操作的數據偏差,,

同時建議在測試中,采用PC軟件來做分析,,這樣可以觀察過程數據變化及數據的保存等,,都是不錯的選擇。

 

      
  
   
 
 
 

 

 

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