涂層測(cè)厚儀又稱為覆層測(cè)厚儀,其原理如下:
磁性測(cè)厚原理:當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí),霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比,測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比,當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,與薄片的厚度d成反比,。通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
渦流測(cè)厚原理:利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),磁性測(cè)厚法是用來(lái)無(wú)損的測(cè)磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀,即涂層測(cè)厚儀,它采用的是的磁感技術(shù),。也就是我們知道的霍爾效應(yīng),霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的,。渦流法可無(wú)損的測(cè)量費(fèi)磁性金屬基體上的非導(dǎo)電層的厚度。通過(guò)研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系,測(cè)量電磁鐵磁嘗磁導(dǎo)率,、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,涂層測(cè)厚儀又叫覆層測(cè)厚儀,測(cè)膜儀,涂鍍層儀它是采用磁性測(cè)厚法和渦流法測(cè)厚原理,。
,涂層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型方法:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測(cè)量精度高
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。
3.超聲波測(cè)厚法:目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴,如200型超聲涂層測(cè)厚儀于測(cè)量非金屬基體上的涂層。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩
5.放射測(cè)厚儀:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合,。
涂層測(cè)厚儀功能:
1,、具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
2,、具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl),;
3、設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN),、zui大值(MAX),、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.),、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV),;
4、可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正,;
5,、具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值;
6,、具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量,;
7,、可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析,;
8,、具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值,、限界,、直方圖;
9,、具有與PC機(jī)通訊的功能:可將測(cè)量值,、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理,;
10,、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式。
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