項目

冷熱沖擊試驗

快速溫變（環(huán)境應力篩選ESS）

備注

試驗目的

主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后,檢測試樣因熱脹冷縮(CTE見注釋#1)所引起的化學變化或物理破壞

利用外加的環(huán)境應力,，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā),、設(shè)計、生產(chǎn)制程中,，因不良元器件,、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來,，給予修正和更換

試驗目的不一樣

測試階段

主要在研發(fā)設(shè)計階段,試制階段

主要在量產(chǎn)階段

階段不一樣

測試對象

主要用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，現(xiàn)在用的zui多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級（如PCBA,IC）

主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級,，組件級和設(shè)備級

冷熱沖擊很少用于做設(shè)備級

溫度變化速率要求

無溫變速率指標,但要求溫度恢復時間,，參考點一般在出風口，國內(nèi)外標準都要求5min以內(nèi),，越快越好,；也有標準要求在產(chǎn)品表面量測，溫度恢復時間在15min以內(nèi)

為了增強篩選效果,，常見快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min,，且溫變速率可控,；

樣品失效模式

由于材料蠕變（見注釋#2）及疲勞損傷引起的失效,，也稱脆性失效

由于材料疲勞（見注釋#3）引起的失效

失效模式不一樣

常見故障現(xiàn)象

如零部件的變形或破裂，絕緣保護層失效,，運動部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化,，快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機械故障

如涂層、材料或線頭上各種微裂紋擴大,；使粘結(jié)不好的接頭松馳,；使螺釘連接或鉚接不當?shù)慕宇^松馳；材料熱膨脹系數(shù)不同產(chǎn)生的變形和應力引起的故障,使固封材料絕緣下降,；使機械張力不足的壓配接頭松馳,；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開路；使運動件及密封件故障

從故障現(xiàn)象看上看二者有一些相同之處

參考標準

JESD22-A106B

GJB-150-A

MIL-STD-810G

MIL-STD-202G 

JEDEC JESD22-A104-b 

IEC68-2-1 

MIL-STD-2164-85

IEC60749-25

設(shè)備選擇

a.對元器件（電容,、電感,、IC），板卡的中小尺寸產(chǎn)品,，*選擇提籃式冷熱沖擊,，測試效果更嚴苛

b.對超大尺寸產(chǎn)品，如液晶電視或者重型產(chǎn)品,，建議選擇三箱式會更適合

c.如果遇到重型產(chǎn)品,，而且尺寸也比較大，同時要求過沖小,，可選擇水平式提籃冷熱沖擊箱做參考

d．除霜周期要求

a.設(shè)備尺寸大小,，常見尺寸 SE-400 L, SE-600 L, SE-1000 L或定制

b．實際測試溫度范圍（如: -40℃~85℃），同時也要求設(shè)備全程溫度范圍（如：-70℃~180℃）

c.溫變速率要求,；是線性溫變速率還是平均溫變速率,；如有帶載溫變速率要求，要明確帶載情況,，包括靜態(tài)負載（通常拿鋁錠做參考）和熱負載（產(chǎn)品帶電發(fā)熱） 

d.驗收標準（如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170）