鍍鋁膜測厚儀由于其測試原理、技術難度,、精度量程范圍,、使用場合等特殊原因，國內(nèi)實驗儀器廠家開發(fā)此產(chǎn)品的并不多,，傳統(tǒng)的機械測試法精度zui的也只能到微米級。煙包、食品,、醫(yī)藥、車燈等行業(yè)涉及的鍍鋁膜很薄,，以埃為單位,。控制鍍鋁膜的厚度就需要高精度的鍍鋁膜測厚儀,，1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃,，也就是說1納米等于10埃,，可見鍍鋁膜測厚儀的精度（食品行業(yè)鍍鋁層一般為200-500埃之間）。

鍍鋁膜測厚儀*代為數(shù)碼管顯示,，第二代為液晶顯示,，此次推出的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀是技術的觸摸屏顯示，為第三代產(chǎn)品,，屏幕觸控操作,，菜單顯示。除此之外,，與之前的相比有以下六點技術升級,。

一、HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀采用一種新材料探頭,，該探頭對金屬材料尤其是鋁膜層非常敏感,，測試精度由原來的10埃提高到1埃。

二,、測試區(qū)域內(nèi)除探頭外全部更換為非金屬材料,，渦流磁場區(qū)域沒有其他金屬，防止干擾,。

三,、測試墊板選用特殊防靜電材料，避免放置鋁膜或移動鋁膜產(chǎn)生的微小靜電,。

四,、機殼摒棄原來的45鋼外加烤漆工藝，使用一次成型的型材,，美觀耐磨,，輕便。

五,、校準儀器的標準物質(zhì)原來使用光盤亮面,，現(xiàn)在采用穩(wěn)定性更高的標準鋁箔作為標準物質(zhì)。

六,、增加方塊電阻顯示,，埃和方塊電阻可自由切換顯示，方便不同的標準計量,。

以上技術升級均是經(jīng)過數(shù)次的篩選材料,，軟件測試，試驗zui終確定的技術方案,，保證了鍍鋁膜測厚儀的超高精度以及穩(wěn)定性,、重復性。

                                        HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀

該HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測，包括食品煙草軟包裝鋁膜,、渦流鍍層,、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜,、硅片蒸鋁層,、 聲表面波鋁膜、 半導體鋁膜,、 車燈鋁膜,、塑料薄膜鋁膜等，符合國家標準GB/T4957,。鋁膜測厚儀利用渦流原理制造,，即被測蒸鋁層靠近高頻激磁磁場時，感應產(chǎn)生渦電流,，因而產(chǎn)生渦流磁場,，此渦流磁場反作用于原來激磁磁場，阻抗發(fā)生變化,，然后通過檢測電路并進行放大,，輸出與厚度相對應模擬電壓。zui終顯示厚度,。

  該升級的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀將會憑借其的技術廣泛應用到超薄鋁層的測試領域,。