膜厚儀的操作注意要點(diǎn)

來源：深圳譜賽斯科技有限公司 2017年03月01日 11:07

　　膜厚測量儀又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,，因響應(yīng)環(huán)保工藝準(zhǔn)則,，故目前市場上zui普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀,。

　　膜厚測量儀是一種常用的測量儀器,，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板,、鋼帶,、薄膜,、紙張,、金屬箔片等材料),。膜厚測量儀使用過程中需要注意的問題較多

　　注意事項(xiàng)：

　　⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似,。

　?、矞y量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直,。

　　⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響,。

　　⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響,。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的,。

　　⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,，如果會將會干擾磁性測厚法,。

　　⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感,。

　　⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定,，否則會影響測量的讀數(shù),。

　　⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì),。

相關(guān)產(chǎn)品

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