涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別
涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別,?膜厚儀和涂層測(cè)厚儀是同一種產(chǎn)品,叫法不一樣,,就好像光澤儀大家會(huì)叫光澤度儀,,光澤度計(jì),光澤測(cè)試儀,。
膜厚儀一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品,。
膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度,常見(jiàn)的鋁基,,銅基氧化,,測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N(非磁性)探頭,這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀,。
涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理,,配F合N探頭,,或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米,,但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大,,需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層,比如中科樸道的PD-CT2涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層,。
兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別,,不過(guò)現(xiàn)在使用者很多不了解,也相互稱呼,。
相關(guān)產(chǎn)品
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