的測(cè)量解決方案提供商——泰克公司日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出業(yè)內(nèi)*個(gè)測(cè)試解決方案,。ONFI 4.0測(cè)試解決方案適用于泰克高性能示波器,，包括在ONFI總線上分析DDR2/3模式的軟件，以及基于插補(bǔ)器 (Interposers)的探測(cè)解決方案,。

     ONFI標(biāo)準(zhǔn)由ONFI工作組發(fā)布,，旨在簡(jiǎn)便于把NAND閃存整合到消費(fèi)電子和計(jì)算平臺(tái)中。ONFI 4.0規(guī)范引入不斷進(jìn)化的NV-DDR3接口,，其工作電壓為VccQ = 1.2V,，不僅提高了性能，還改善了功耗,，并把NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴(kuò)展到667 MT/s和800 MT/s,，增加了ZQ校準(zhǔn)功能。由于速度提高和電壓下降,，處理ONFI總線的設(shè)計(jì)人員面臨著諸多挑戰(zhàn),，如保證一致性，調(diào)試定時(shí)問題,，獲得信號(hào),。通過TEK-PGY-ONFI軟件，設(shè)計(jì)和測(cè)試工程師可以測(cè)試ONFI接口是否滿足ONFI總線定時(shí)參數(shù),，并自動(dòng)測(cè)量Command,、Address、Data in和Data out業(yè)務(wù),。TEK-PGY-ONFI軟件中的細(xì)節(jié)視圖功能通過進(jìn)行標(biāo)注,，把ONFI波形的每個(gè)電氣測(cè)量指標(biāo)與模擬波形關(guān)聯(lián)起來(lái)，幫助用戶調(diào)試定時(shí)問題,。密集封裝和高數(shù)據(jù)速率給NAND閃存器件中的高保真信號(hào)接入帶來(lái)了挑戰(zhàn)。泰克支持各種不同的機(jī)械外形,，包括帶有插口的探頭設(shè)計(jì),、直接連接探頭設(shè)計(jì)、已獲的邊緣探頭設(shè)計(jì),，可以滿足異常緊張的機(jī)械要求,。其提供了插補(bǔ)器 (Interposers)和探頭S參數(shù)模型,，用于建模或生成應(yīng)用到示波器中的反嵌濾波器,。

     TEK-PGY-ONFI軟件在帶寬為4GHz -33GHz的泰克MSO/DPO70000系列示波器上運(yùn)行,，推薦在測(cè)試中使用P7500或P7300系列探頭。有些客戶在進(jìn)行ONFI測(cè)試時(shí),，可能很難或根本不能接入信號(hào),，因此泰克推薦使用Nexus開發(fā)的ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真插補(bǔ)器 (Interposers)，實(shí)現(xiàn)信號(hào)接入,，同時(shí)保持信號(hào)完整性,。

     “這種ONFI測(cè)試解決方案為客戶提供了所需的洞察力，使他們能夠更快,、更加滿懷信心地把基于內(nèi)存的產(chǎn)品推向市場(chǎng),。”泰克科技公司高性能示波器總Brian Reich說，“與手動(dòng)測(cè)試相比,，這一解決方案明顯縮短了一致性測(cè)試時(shí)間,，簡(jiǎn)化了調(diào)試工作，zui終提升了生產(chǎn)效率,。”

      推出的TEK-PGY-ONFI軟件完善了泰克為其他內(nèi)存技術(shù)提供的全面解決方案,，包括eMMC, UFS和DDRA。